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單晶少子壽命測試儀

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  • 型號 XNC-LT2
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2022-02-14 19:40:16瀏覽次數(shù):298

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領(lǐng)域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,電子
可測單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
XNC-LT2型單晶少子壽命測試儀
是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命,。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之一,。本儀器靈敏度較高,,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶,、多晶磷檢棒的壽命測量等

詳細介紹

XNC-LT2單晶少子壽命測試儀

XNC-LT2單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,,是半導體的常規(guī)測試項目之一,。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

   本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設(shè)計,,由穩(wěn)壓電源,、高頻源、檢波放大器,,特制的InGaAspInP紅外光源及樣品臺共五部份組成,。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊,、測量數(shù)據(jù)可靠,。

技 術(shù) 指 標

 測試單晶電阻率范圍  >2Ω.cm

 可測單晶少子壽命范圍       5μS7000μS

 配備光源類型       波長:1.09μm;余輝<1 μS,;

 閃光頻率為:2030次/秒,;

 閃光頻率為:2030次/秒;

 高頻振蕩源  用石英諧振器,,振蕩頻率:30MHz

 前置放大器  放大倍數(shù)約25,,頻寬2 Hz-1 MHz

 儀器測量重復誤差       <±20

 測量方式       采用對標準曲線讀數(shù)方式

 儀器消耗功率       <25W

 儀器工作條件       溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%,、使用電源:AC 220V,,50Hz

 可測單晶尺寸       斷面豎測:φ25mm150mm L 2mm500mm,;

 縱向臥測:φ25mm150mm,; L 50mm800mm

 配用示波器  頻寬020MHz,;

 電壓靈敏:10mVcm,;


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