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EDX8000T PLUS-X射線鍍層測(cè)厚儀
  • EDX8000T PLUS-X射線鍍層測(cè)厚儀

地: 唯新路69號(hào)一能科技園2幢40

更新時(shí)間:2025-03-18 21:00:08

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X射線鍍層測(cè)厚儀EDX8000T PLUS
>微光斑垂直光路,,專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)
>高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速,,無(wú)損,高精度測(cè)量
>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng),,精確的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度
>全系列標(biāo)配薄膜FP無(wú)標(biāo)樣分析法軟件,,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量

膜厚儀EDX-8000T PlusXRF鍍層測(cè)厚儀/電鍍液分析儀

Simply The Best

 

>微光斑垂直光路專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì),,可分析不規(guī)則樣品厚度

 

>高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速,,無(wú)損,高精度測(cè)量

 

>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng),,可移動(dòng)高精度樣品平臺(tái),,準(zhǔn)確快速定位測(cè)試點(diǎn)位

 

>全系列標(biāo)配薄膜FP無(wú)標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及鍍層厚度和材料成分進(jìn)行測(cè)量

 

>搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái),,使微區(qū)測(cè)量更便捷

Coating thickness analyzer03.jpg



背景介紹

材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),,其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果,、導(dǎo)電性,、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量,、過(guò)程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用,。英飛思開(kāi)發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定,。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,,無(wú)損,,操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快??赏瑫r(shí)分析多達(dá)五層材料厚度,,并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。

XRF鍍層測(cè)厚儀工作原理

鍍層測(cè)厚儀EDX8000T Plus是將X射線照射在樣品上,,通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,,因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞,。同時(shí),,測(cè)量的也可以在10-30秒內(nèi)完成。

膜厚儀EDX8000T Plus產(chǎn)品特點(diǎn)

>全新的下照式一體化設(shè)計(jì),,

>測(cè)試快速,無(wú)需樣品制備

>可通過(guò)內(nèi)置高清CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測(cè)量,,避免直接接觸,,污染或破壞被測(cè)物軟件配備距離補(bǔ)正算法,,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,,螺紋,曲面等)的異型的精準(zhǔn)測(cè)試

>備有多種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品

>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U

>SDD檢測(cè)器,,具有高計(jì)數(shù)范圍和出色的能量分辨率

>自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片0.15mm,0.2mm,0.3mm

膜厚儀EDX8000T Plus應(yīng)用場(chǎng)景

>EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀可以用于PCB鍍層厚度測(cè)量,,金屬電鍍鍍層分析;

>測(cè)量的對(duì)象包括鍍層,、敷層,、貼層、涂層,、化學(xué)生成膜等

>可測(cè)量離子鍍,、電鍍、蒸鍍,、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻,,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>電路板和柔性PCB上的涂層

>插頭和電觸點(diǎn)的接觸面

>貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析

>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層

>分析硬質(zhì)材料涂層,,例如 CrN,、TiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能電鍍液離子濃度分析

技術(shù)參數(shù)

儀器外觀尺寸:520mm*400mm*450mm

超大樣品腔:430mm*370mm*210mm

儀器重量: 35Kg

鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)

成分分析范圍:鋁Al(13)- 鈾U(92)

可分析含量范圍:1ppm-99.99%

涂鍍層檢出限:0.005μm,,可同時(shí)分析5層以上鍍層

探測(cè)器:高分辨率鈹窗電制冷SDD探測(cè)器,,可升級(jí)FSDD

多道分析器: 4096道DPP analyzer

X光管:50W高功率微聚焦光管

X射線照射方式:由下往上

準(zhǔn)直器:自動(dòng)切換圓形孔Φ0.1mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm,

可選配槽型0.05*0.1mm,,0.05*0.3mm

濾光片:3種可切換

高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV,,自帶電壓過(guò)載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

樣品平臺(tái):手動(dòng)高精度XY軸移動(dòng)平臺(tái)

XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍:10mm*10mm,

可選配50mm*50mm

樣品對(duì)焦:手動(dòng)測(cè)距對(duì)焦

可選配純?cè)貥?biāo)樣,鍍層校準(zhǔn)片

環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C

 

鍍層專用分析軟件,,功能強(qiáng)大,,方便易學(xué)

>基于無(wú)標(biāo)樣分析算法內(nèi)核FP開(kāi)發(fā),提高測(cè)量精度

>帶自動(dòng)距離補(bǔ)償算法

>一鍵測(cè)試,,一鍵打印報(bào)告,,可定制測(cè)試報(bào)告模板

光譜儀EDX8000T PLUS鍍層測(cè)試報(bào)告.png

 

 

 

膜厚儀EDX8000T Plus可分析的常見(jiàn)鍍層材料

 

可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬,、輕金屬,、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量

 

單涂鍍層應(yīng)用:如Ag/Cu,Zn/FeCr/Fe, Ni/Fe

 

多涂鍍層應(yīng)用:如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe,,Au/Ni/Cu

 

合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu

 

合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe, 同時(shí)分析鎳磷含量和鍍層厚度

 

 


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