X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer,，簡稱：XRF光譜儀）,，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷,，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,，會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應的測試強度,。用標準物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關系，也就是標定曲線,。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后,，再去測試未知樣品，便可快速分析石油及其他液體中的硫含量,。
參考樣和待測樣品被置于同一載樣臺板上,。當取樣孔可以取樣時，參考樣位于測量位置,，此時顯示屏右下角有：“參考樣位于測量位置”字樣,，當擋板蓋住取樣孔時,，待測樣位于測量位置，此時顯示屏左下角有：“待測樣位于測量位置”字樣,。
樣品臺板只能處于測“參考樣”位置或測“待測樣”位置,，不能處于其它任何中間位置，處于其它位置儀器將報警,，也不能正常工作,。
儀器在不測含量時，載樣處于測“參考樣”位置,。儀器自動對參考樣采樣,，且采用當前的數(shù)據(jù)平均值，供儀器測量含量時使用,，這樣儀器一直處于等待狀態(tài),，放入待測樣就可以分析。
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