高靈敏度光譜儀EDX8000MAX測金儀用于爐渣中金和銀的測定
耐火坩堝用于精煉金 (Au) 和銀 (Ag)。在精煉過程中,，少量金屬擴散到坩堝,。在其生命周期結(jié)束時，坩堝被壓碎并研磨,，研磨后的物質(zhì)稱為渣滓,。 黃金和從浮渣中回收銀。洗滌液中金銀濃度
浮渣一般高于其相應礦石中的濃度,。需要測定浮渣中的 Au 和 Ag,，了解其商業(yè)價值。
常用的分析技術(shù)如原子吸收光譜法,、光發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法是溶液采樣技術(shù),。由于渣滓難熔且具有化學惰性，需要一個復雜而耗時的程序?qū)⑵鋷虢鉀Q方案,。此外,，在分解過程中，存在風險污染,，直接或通過試劑,，以及損失分析物,。由于渣滓難分解考慮解決方案抽樣技術(shù)的缺點，總是更好有技術(shù)可以直接確定黃金和白銀浮渣,。 X 射線熒光 (XRF) 已被確立為用于直接分析固體的非常有效和通用的分析技術(shù),。
能量色散 XRF (EDXRF) 是一種無損技術(shù)，是快速且需要最少的樣品制備,。 EDXRF
技術(shù)已用于測定金和銀在各種基質(zhì)中,，包括礦石、銀珠,、珠寶和考古材料,。
在 XRF 技術(shù)中，基質(zhì)成分會影響測量的分析物線強度,。因此,，矩陣匹配的標準是定量分析所需。在本工作中使用標準添加方法作為基質(zhì)匹配標準不可用,。加標方法一般為
用于溶液取樣技術(shù),，添加的分析物必須與測試樣品中的分析物具有相同的化學形式。作為
X 射線的發(fā)射不取決于物質(zhì)的化學狀態(tài)原子,，添加的分析物的化學形式不必是在 XRF 分析的情況下,，與測試樣品中的分析物相同。樣品制備是 XRF 測定中最關(guān)鍵的步驟,。壓片和熔珠是 XRF 測量中樣品制備的兩種方法,。在熔珠法中，樣品和助焊劑(1:15 w/w) 通過在一定溫度下加熱熔化在 Pt-5% Au 坩堝中1250°C,。雖然熔珠法制備的樣品具有更好的均勻性,，樣品被助焊劑稀釋從而降低珠中分析物濃度的 15 倍。此外,，還有一個由于與鉑合金化,，可能會損失金和銀
熔珠法中使用的坩堝。因此,，被壓本工作采用顆粒法,。Au (L β: 11.4 keV) 和 Ag 的無干擾特征 X 射線(Kβ: 24.9 keV) 被選擇用于量化。Au L α 的強度(9.71 keV) 和 L β (11.44 keV) 線是相同的,。因此,，任何可以使用這兩行之一。為了分析熔渣,，AuL β 線的選擇是考慮到矩陣效應的結(jié)果Cu（K 邊：8.99 keV）和 Zn（K 邊：9.67 keV）,。對于銀的量化，使用了 Ag K β 線 (24.9 keV)。銀的定量使用 Ag Kα 線（22.16 keV）無法進行,，因為
Rh 源線和 15-23 keV 范圍內(nèi)的高強度軔致輻射,。使用 Rh 源激發(fā)樣品(20.21 keV)。由于銀的 L 吸收邊緣為 3.82 keV,，因此由于橫截面低而未觀察到特征 L 線）,。
EDX-8000 Max
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