EDX8000B熒光測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬鍍層涂層材料成分和厚度分析
涂層分析可以告訴你很多關(guān)于材料,、物品等的內(nèi)容。舉個(gè)例子:可以測(cè)量由某種合金制成的細(xì)節(jié)的含量,,而不會(huì)對(duì)其造成損壞,。應(yīng)用分析的另一種方法是通過測(cè)量珠寶來識(shí)別有害或過多的雜質(zhì)和鍍金。涂層厚度分析幾乎可以應(yīng)用于重工業(yè)和輕工業(yè),、建筑,、公用事業(yè)等的每個(gè)領(lǐng)域。
哪些行業(yè)必須進(jìn)行涂層厚度測(cè)量,?
電鍍厚度
由于使用 XRF 8000膜厚儀進(jìn)行涂層厚度測(cè)量可以獲得準(zhǔn)確的覆蓋層元素組成,,因此其設(shè)備領(lǐng)域眾多:
控制生產(chǎn)質(zhì)量的輕重工業(yè);
需要對(duì)金屬和合金含量和金屬分選進(jìn)行精確測(cè)試的冶金,;
油漆和清漆行業(yè):生產(chǎn)中鉛濃度分析,;
首飾:鑒別首飾中的鍍金和其他金屬。
至于鍍層厚度測(cè)試,,XRF 分析廣泛用于公用事業(yè)服務(wù)和工業(yè),。在大多數(shù)情況下,它有助于猜測(cè)細(xì)節(jié)是否滿足所需的特征,,這在某些領(lǐng)域(例如航空航天建筑)至關(guān)重要,。
典型的涂層鍍層類型有:
· 鐵/鋼上鍍鋅;
· 鐵/鋼鍍鉻,;
· 鐵/鋼鍍鎳,;
· 鐵/鋼上鍍銅;
· 銅鍍金,;
· 銅鍍鎳,;
XRF 鍍層測(cè)厚儀EDX8000B如何測(cè)量涂層厚度和材料成分?
顧名思義,,XRF 涂層厚度測(cè)試儀會(huì)發(fā)出 X 射線,。這些射線使內(nèi)層用電子射向原子。該過程稱為電離,。當(dāng)來自原子涂層內(nèi)層的電子被彈出而電子不存在時(shí),,原子用圍繞原子核旋轉(zhuǎn)的外層電子代替它。這種替代會(huì)發(fā)出所謂的熒光輻射,。涂層厚度測(cè)量設(shè)備感知這種輻射并用它構(gòu)建光譜,。該光譜顯示在屏幕上,用戶可以在設(shè)置該涂層的主要元素時(shí)識(shí)別該涂層的厚度,。 X 射線測(cè)厚儀成功地獨(dú)立于被測(cè)物體的形式和條件測(cè)量了單組分涂層,。
使用 X 射線熒光鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行涂層測(cè)量的好處
自1928年(XRF分析發(fā)現(xiàn)年)以來,,XRF金屬鍍層測(cè)厚儀設(shè)備得到了改進(jìn)。現(xiàn)在,,這是一種非常有用和舒適的厚度分析方法,,對(duì)用戶來說具有特殊的好處:涂層分析不會(huì)損壞材料:
無需切割涂層。
EDX8000鍍層厚度測(cè)試儀是一種多用途的移動(dòng)工具:它可以分析各種形式和尺寸的物體,。
分析本身進(jìn)行得很快,,可以為用戶提供非常準(zhǔn)確的結(jié)果。
盡管有 X 射線應(yīng)用,,但這種測(cè)試對(duì)用戶來說是安全的方法之一,。輻射以最小的,、無害的量釋放,,方向與用戶正好相反。
X射線熒光分析設(shè)備是一種在不停止生產(chǎn)和不損壞被測(cè)物品的情況下測(cè)試涂層和材料的現(xiàn)代方法,。
使用50 瓦 X 射線管的 EDXRF 的穿透深度
XRF可穿透厚度表 | ||
鍍層材料 | 基材 | Thickness厚度(μm) |
Al | Cu | 0-100.0 |
Cd | Fe | 0-60.0 |
Cu | Al | 0-30.0 |
Cu | Fe | 0-30.0 |
Cu | Plastic | 0-30.0 |
Au | Ceramic | 0-8.0 |
Au | Cu/Ni | 0-8.0 |
Pb | Cu/Ni | 0-15.0 |
Ni | Ceramic | 0-20.0 |
Ni | Cu | 0-20.0 |
Ni | Fe | 0-20.0 |
Pd | Ni | 0-40.0 |
Pd-Ni | Ni | 0-20.0 |
Pt | Ti | 0-8.0 |
Rh | Cu/Ni | 0-50.0 |
Ag | Cu/Ni | 0-50.0 |
Sn | Al | 0-60.0 |
Sn | Cu/Ni | 0-60.0 |
Sn-Pb | Cu/Ni | 0-25.0 |
Zn | Fe | 0-40.0 |
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