X射線測厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析
EDX8000B鍍層測厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析，1～5層,；
測試精度：0.001 μm,；
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
測量時間：10~30秒,；
SDD探測器,，能量分辨率為125±5eV；
探測器Be窗0.5mil（12.7μm）,；
微焦X射線管50kV/1mA,，銠靶；
8個準(zhǔn)直器及多個濾光片自動切換,；
高清CCD攝像頭（500萬像素）,，準(zhǔn)確監(jiān)控位置；
多變量非線性去卷積曲線擬合,；
高性能FP無標(biāo)樣分析軟件,；
測厚儀,，專業(yè)表面處理檢測解決方案：EDX8000BX射線測厚儀，專用于檢測各種異形件,，特別是五金類模具,、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析,。
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