XRF熒光光譜測(cè)金儀EDX6000的基本原理
X 射線熒光 (XRF) 測(cè)金儀EDX6000是一種診斷性無(wú)損檢測(cè)技術(shù),，可用于檢測(cè)和測(cè)量物質(zhì)中元素的濃度,。熒光是現(xiàn)象吸收入射輻射并將其重新輻射為低能量輻射。一個(gè)熒光的例子是“T"襯衫,，當(dāng)暴露在隱形環(huán)境中時(shí)會(huì)明顯發(fā)光的紫外線,。某些礦物質(zhì)會(huì)發(fā)出熒光；什么時(shí)候暴露在紫外線下,，它們會(huì)發(fā)出熒光——發(fā)出可見(jiàn)光,。在原子尺度上，可見(jiàn)光熒光是由入射的紫外線引起的從原子的外層電子殼中射出低能電子,?？杖保粝掠缮涑龅碾娮犹畛?，由從最外層“落入"的電子填充,。這個(gè)“插入"以某種可見(jiàn)光的形式釋放特定量的能量顏色（能量）。
在 X 射線熒光中,，同樣的原理適用,，但傳入的能量輻射更高。而不是將物質(zhì)暴露在紫外線輻射下,，觀察可見(jiàn)光熒光,，將物質(zhì)暴露在 X 射線下并發(fā)出熒光發(fā)出較低能量的 X 射線,。
在原子尺度上，X 射線熒光是由來(lái)自原子最內(nèi)層電子殼層的高能電子射出的入射 X 射線引起的,。留下的空缺射出的電子被從外殼“落入"的電子所填充,。這個(gè)“插入"會(huì)以特征 X 射線的形式釋放特定數(shù)量的能量。熒光 X 射線的離散能量是能量水平的“特征"元素中的電子殼層,。每個(gè)元素的這些能級(jí)是不同的,。因此，通過(guò)分析由一個(gè)發(fā)射器發(fā)射的熒光 X 射線光譜的能量,，
物質(zhì),，人們可以確定存在哪些元素，以及它們?cè)谖镔|(zhì)中的濃度物質(zhì),。該信息可能足以識(shí)別物質(zhì),。
黃金珠寶首飾檢測(cè)專(zhuān)家EDX6000測(cè)金儀
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 400mm*405mm*455mm
樣品腔：300mm*310mm*104mm
儀器重量: 38 kg
元素分析范圍：K19-U92鉀到鈾
可分析含量范圍：1ppm- 99.99%
探測(cè)器：AmpTek 高分辨率電制冷硅檢測(cè)器Si-Pin
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器
X光管：50W高功率鈹窗光管
高壓發(fā)生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過(guò)載保護(hù)
電壓：220ACV 50/60HZ
環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C
儀器配置
>標(biāo)準(zhǔn)配置>可選配置
純Au初始化標(biāo)樣交流凈化穩(wěn)壓電源
戒指樣品夾黃金標(biāo)樣
USB數(shù)據(jù)線
電源線
測(cè)試薄膜
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告
保修卡
功能強(qiáng)大界面友好的FP測(cè)試軟件
1.一鍵測(cè)試,，客戶(hù)只需要打開(kāi)儀器蓋子,，放入樣品，點(diǎn)擊‘開(kāi)始’按鈕即可完成測(cè)試
2.核心FP算法,，使得EDX6000匹配實(shí)驗(yàn)室火試金法的測(cè)試精度
3.元素含量,，黃金K值，測(cè)試譜圖一目了然
4.一鍵打印測(cè)試報(bào)告
5.多點(diǎn)測(cè)試功能,?？蛻?hù)可以測(cè)量樣品多個(gè)點(diǎn)位，軟件自動(dòng)計(jì)算平均值,。
及時(shí)而專(zhuān)業(yè)的售后服務(wù)
>對(duì)客戶(hù)方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)
>現(xiàn)場(chǎng)安裝,、調(diào)試、驗(yàn)收服務(wù)
>產(chǎn)品終身維修
>免費(fèi)提供軟件升級(jí)
>提供高效的技術(shù)服務(wù),，在接到用戶(hù)故障信息后,，8小時(shí)內(nèi)響應(yīng),，如有需要,，48小時(shí)內(nèi)工程師上門(mén)維修和排除故障
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