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| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產業(yè),能源,航天,汽車 | 自動化度 | 半自動 |
產品分類品牌分類
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產品簡介
詳細介紹
SDY-4型四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試專用儀器.
儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,采用平面輕觸式開關控制,及各種工作狀態(tài)LED指示.應用微計算機技術,，利用HQ-710E型測量數據處理器,，使得測量讀數更加直觀、快速,，并能實現(xiàn)晶片厚度自行修正,，打印出全部預置和測量、計算數據,。整套儀器體積小,、功耗低、測量精度高,、測試速度快,、穩(wěn)定性好、易操作,。
SDY4四探針測試儀 本儀器可滿足半導體材料,、器件的研究生產單位對材料(棒材、片材)電阻率及擴散層,、離子注入層,、異型外延層和導電薄膜方塊電阻測量的需要。
技術指標
1 測量范圍: 電阻率:0.001-200Ω.cm(可擴展);
方塊電阻:0.01-2000Ω/口(可擴展);
2 可測晶片直徑(最大):100mm(配J-2B型手動測試臺)
200mm(配J-51型手動測試臺)
3 恒流源:電流量程分為0.1,、1,、10、100(mA)四檔,各檔電流連續(xù)可調.誤差<±0.3%
4 數字電壓表:
量程:0-199.99mV; 分辨率:10μV
顯示:四位半紅色發(fā)光管數字顯示;極性,、小數點,、超量程自動顯示。
輸入阻抗>1000MΩ; 精度:±0.1%.
5 最大電阻測量誤差(按JJG508-87進行):0.1Ω,、1Ω,、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字.
6 四探針探頭:
間距:1±0.01mm;針間絕緣電阻≥1000MΩ;機械游移率:≤0.3%
探針壓力:TZT-9A/9B: 12-16牛頓(總力) TZT-9C/9D 5-8 牛頓(總力)
7 整機不確定度:(用硅標樣片測試)≤5% (0.01-180Ω.cm)
8 外形尺寸:電氣主機:360mm×320mm×100mm,；數據處理器：300mm×210mm×105mm
9 數據處理器功能:
A 鍵盤控制測量取數,自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示出平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正;
B 鍵盤控制數據處理,運算電阻率平均值和電阻率值最大百分變化及平均百分變化;
C 鍵盤控制打印全部測量數據.測量條件,、最大電阻率值、最小電阻率值,、電阻率最大百分變化及平均百分變化,。
10 儀器重量：電氣主機：約4kg；測試臺：約10kg,，數據處理器：約2.5kg
11 測試環(huán)境：溫度23±2℃,；相對濕度≤65％,；無高頻干擾；無強光照射,。