XRF膜厚檢測(cè)儀EDX600增強(qiáng)型應(yīng)用領(lǐng)域
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貴金屬鍍飾.....

設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì),，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,，極大減少您擺放樣品的時(shí)間,。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散,，實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試,。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補(bǔ)正算法,，實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品（如凹凸面,，拱形，螺紋,，曲面等）的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試,。

XRF膜厚檢測(cè)儀硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器，分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,，讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定,。
配備微聚焦的X光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓,。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm,；Φ0.3mm,。
軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷,。曲線的中文備注,，讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,，讓您的使用更加放心,。