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鹽城探傷機(jī) 超聲波探傷檢測條件的選擇因素
鹽城探傷機(jī) 超聲波探傷檢測條件的選擇因素受一下條件的影響：
1.探頭選擇：
頻率：雙晶直探頭為5MHZ,，單晶直探頭為2MHZ～5MHZ，對晶粒粗大鍛件可適當(dāng)降低頻率,，可用1～2.5MHZ。
晶片尺寸：Ф14～25mm,，常用Ф20mm
雙晶直探頭——檢測近表面缺陷,。探頭晶片面積不小于150mm2。
斜探頭——晶片面積為140mm2～400mm2,，頻率為2.5MHZ,。探測與表面垂直缺陷宜用K1(45°)，必要時用60°～70°相當(dāng)于K2,。
2.表面要求與耦合劑：
表面要求：檢測面表面要求平整,，經(jīng)機(jī)加工，表面粗糙度Ra應(yīng)小于6.3μm,，□工件表面應(yīng)去除氧化皮,、污物等附著物。
耦合劑：機(jī)油,、漿糊,、甘油等。
3.掃查方式：
——互相垂直兩個方向
100%掃查
直探頭
雙晶直探頭
斜探頭：周向,、軸向各正,、反二個方向。
掃查復(fù)蓋面積探頭直徑尺寸15%,。
掃查速度≤150mm/s,。
4.材質(zhì)衰減測定
在鍛件上選定三處有代表性部位(完好部位)無損檢測資源網(wǎng)測出次底波B1和第二次底波B2的波高分界值,。
則
這里X≥3N，為單程聲程(厚度或直徑)
這里X<3N,，且滿足
5.試塊
①縱波直探頭：□JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定CSⅠ型標(biāo)準(zhǔn)試塊,。
②雙晶直探頭試塊：JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定CSⅡ型標(biāo)準(zhǔn)試塊。
適用距離為深度小于45mm,。
③探測曲面工件時,，應(yīng)使用曲面試塊，曲面試塊為JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的CSⅢ型試塊曲率R與工件曲率關(guān)系為：
JB/T4730-2005規(guī)定試塊曲率半徑R為工件曲率半徑的0.9～1.5倍,。
GB/T6420-91標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定工件曲率半徑為試塊曲率半徑R的0.7～1.1倍,。
6.探傷時機(jī)：
熱處理后，槽,、孔,、臺階等機(jī)加工前。
如熱處理前檢驗(yàn)(對鍛件形狀不合適熱處理后檢驗(yàn)的),，則在熱處理后仍要再進(jìn)行檢測,。
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