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貨物所在地:上海上海市
所在地: 美國
更新時間:2025-01-04 21:00:22
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zeta電位及粒度分析儀簡介:
在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,。
zeta電位及粒度分析儀技術(shù)優(yōu)勢
1、高靈敏度PMT檢測器,;
2,、可搭配不同功率光源;
3,、準(zhǔn)確度高,,接近樣品真實值;
4,、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位,;
5、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù),;
6,、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
7,、符合USP,CP等個多藥典要求,;
8、無需校準(zhǔn),;
9,、復(fù)合型算法:
(1)高斯(Gaussion)正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
(2)頻率(Frequency)Zeta電位分析法與*的相位(Phase)分析法自由切換
10、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級,;
(1)可自動稀釋模塊(選配),;
(2)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);
(3)搭配多角度檢測器(選配),;
優(yōu)勢:
模塊化設(shè)計
Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀,。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大,,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析,。
選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求
Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR PART11)要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動備份,,審計追蹤,,權(quán)限分級,電子簽名,,可連接Lims系統(tǒng)等多項功能,。
中國食品藥品監(jiān)督管理局(NMPA)有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求,。
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