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貨物所在地:上海上海市
所在地: 美國
更新時間:2025-01-05 21:00:22
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ZETA電位粒度分析儀簡介:
在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來,,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有*技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢,。
ZETA電位粒度分析儀參數(shù):
1,、高靈敏度PMT檢測器;
2,、可搭配不同功率光源;
3,、準(zhǔn)確度高,,接近樣品真實值;
4,、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位,;
5、快速檢測,,可以追溯歷史數(shù)據(jù),;
6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn),;
7,、符合USP,CP等個多藥典要求;
8,、無需校準(zhǔn),;
9、復(fù)合型算法:
(1)高斯(Gaussion)正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
(2)頻率(Frequency)Zeta電位分析法與*的相位(Phase)分析法自由切換
10,、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級,;
(1)可自動稀釋模塊(選配);
(2)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配),;
(3)搭配多角度檢測器(選配),;
Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的準(zhǔn)確情況,。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計,Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系,。
ZETA電位分析儀優(yōu)勢:
模塊化設(shè)計
Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀,。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大,,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析,。
選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求
Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR PART11)要求的軟件,。具有數(shù)據(jù)自動備份,審計追蹤,,權(quán)限分級,,電子簽名,可連接Lims系統(tǒng)等多項功能,。
中國食品藥品監(jiān)督管理局(NMPA)有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實施規(guī)范的GLP 管理,。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。
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