目錄:北京儀光科技有限公司>>臺式電鏡&臺階儀&原位分析>>澤攸探針臺及低溫系統(tǒng)>> 澤攸ZP3-4 微納探針臺
澤攸ZP3-4 微納探針臺可在納米尺度上對樣品和測試設(shè)備進(jìn)行電學(xué)表征。
產(chǎn)品參數(shù)
探針數(shù)量:4個(gè)探頭,,每個(gè)探頭配備一個(gè)三軸探針臂;自由度:每個(gè)探頭獨(dú)立驅(qū)動(dòng)(X,、Y、Z三自由度);
運(yùn)動(dòng):壓電驅(qū)動(dòng),;
步進(jìn)速度:2 mm/s(X,,Y,Z),;
運(yùn)動(dòng)范圍:20x20mm(X,,Y),,10mm(Z);
運(yùn)動(dòng)分辨率:1 nm (X,、Y),,10nm (Z);
探針規(guī)格:針柄直徑為0.51mm(0.020’’);
澤攸ZP3-4 微納探針臺產(chǎn)品優(yōu)勢
快速,、準(zhǔn)確,、穩(wěn)定
ZP3-4微納探針臺包含4個(gè)壓電三軸探針臂,每個(gè)三軸配備1個(gè)可拆卸式電學(xué)探針接口,,可在毫米級尺度上進(jìn)行宏觀運(yùn)動(dòng)并實(shí)現(xiàn)納米尺度上的微觀運(yùn)動(dòng),。
使用場景多樣化
ZP3-4微納探針臺結(jié)構(gòu)緊湊,占用空間小,,運(yùn)動(dòng)行程大,,可匹配各種顯微鏡樣品臺,真空室,,光學(xué)試驗(yàn)臺等工作條件,。
完善的技術(shù)解決方案
Z P 3 - 4 微 納 探 針 臺 與 尼 康 金 相 顯 微 鏡 / SR-Scopel集成形成的探針臺電學(xué)測量系統(tǒng),為宏觀行程上進(jìn)行的微觀尺度電學(xué)及表征測量提供了具體的解決方案,。
直觀,、方便
ZP3-4微納探針臺通過手柄控制,具有多級宏觀調(diào)速,,脈沖運(yùn)動(dòng),,以及位移微調(diào)功能,宏觀運(yùn)動(dòng)速度跨度在5um/s~2mm/s,,單點(diǎn)脈沖步進(jìn)可達(dá)300nm以下,,微調(diào)運(yùn)動(dòng)分辨率小于1nm,在顯微鏡下操作更直觀,,方便,,準(zhǔn)確。
高度集成
ZP3-4微納探針臺電學(xué)測量系統(tǒng),,配備完善的光學(xué)顯微鏡模塊,,配備亮度調(diào)節(jié),增益和變焦等功能,,與電腦連接后,,可實(shí)現(xiàn)圖像快照,尺寸測量和標(biāo)注,,視頻記錄等常規(guī)功能,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)