您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
行業(yè)產(chǎn)品
歡迎: | 您已成功登錄: 進入管理退出登錄收藏該商鋪
北京儀光科技有限公司
17701039158
首頁 >> 技術(shù)文章 >> Sensofar共聚焦白光干涉儀光譜反射技術(shù)
立即詢價
聯(lián)系方式
我們將在第一時間聯(lián)系您
請勿重復留言,!
透明層沉積在表面上時,其反射率會變化,。該系統(tǒng)獲取可見范圍內(nèi)樣本的反射光譜,,并與軟件計算的模擬光譜進行比較,對層厚進行修改,,直到找到匹配的厚度,。對于薄膜,厚度與光波長類似,,我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應,。
主要特征
從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜可在不到 5 秒的時間內(nèi)測得
從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜
不到 5 秒內(nèi)采集
一個物鏡可覆蓋 整個 范圍
不同光斑大小 (3.5 μm 到 40 μm)
上一篇: Sensofar共聚焦白光干涉儀 |白光干涉技
下一篇:揭秘 Sensofar CSI 白光干涉是如何運作
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)
詢價產(chǎn)品
立即詢價
您提交后,,專屬客服將第一時間為您服務(wù)