在GPAINNOVA,,S neox Five Axis專(zhuān)門(mén)用于量化拋光工藝的質(zhì)量,并說(shuō)明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況
GPAINNOVA正在對(duì)制造團(tuán)隊(duì)得以生產(chǎn)高質(zhì)量金屬表面的方法進(jìn)行改造,。DLyte系列機(jī)器基于Drylyte**技術(shù):這是第一個(gè)干式電解拋光工藝,,為業(yè)內(nèi)的金屬合金表面修整提供了解決方案。應(yīng)用范圍從美觀部件打磨,、倒圓,、去毛刺到表面修勻和高光澤拋光。Sensofar的S neox Five Axis使我們能夠采用現(xiàn)有表面修整解決方案達(dá)到最高質(zhì)量,。
在GPAINNOVA,,Sensofar S neox Five Axis專(zhuān)門(mén)用于量化拋光工藝,并說(shuō)明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況,。樣品可能各有不同,,下至非常粗糙的增材制造零件,上至鏡面表面,,而Sensofar系統(tǒng)包括多焦面疊加,、共聚焦和干涉測(cè)量技術(shù)等多種功能,因此所有樣品都可以使用Sensofar系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量,。
下文所述為DLyte功能的一個(gè)簡(jiǎn)短示例,。可以看到DLyte拋光前后由CoCr制成的股骨組件,。
在Sensofar系統(tǒng)之前,,我們使用接觸式觸針輪廓儀,獲取的參數(shù)只有輪廓參數(shù)(Ra,、Rz,、Rq等)。盡管Ra是常用的參數(shù),,但它并未提供有關(guān)表面空間結(jié)構(gòu)的任何信息,。但是從現(xiàn)在起,借助Sensofar計(jì)量技術(shù),,可以測(cè)量Sa(Ra向表面的延伸)等表面參數(shù),。Sa的測(cè)量考慮樣品表面粗糙度,可以比Ra更好地表征表面,。測(cè)量某個(gè)區(qū)域的主要優(yōu)點(diǎn)是有可能掃描更大的區(qū)域,,并生成適合作為樣品概觀的數(shù)毫米大小的表面,,從而獲得更可靠的數(shù)值。3D區(qū)域表面參數(shù)按照ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算(對(duì)表面紋理基礎(chǔ)的重新定義),,包含以下參數(shù):Sa,、Sq、Ssk,、Sku,、Sp、Sv和Sz,。
通過(guò)干涉測(cè)量技術(shù),,采用50x DI物鏡獲得以下測(cè)量結(jié)果。干涉測(cè)量技術(shù)使我們能夠測(cè)量和上文所述股骨組件樣品一樣的鏡面表面,。
S neox Five Axis不僅可用于表征拋光工藝后表面粗糙度降低的情況,,還可用于證明借助Drylyte技術(shù)保持了拋光零件的公差。下文所示為加工零件的外形和形狀測(cè)量示例,,該案例使用了多焦面疊加技術(shù),。
可以看出,由于采用干涉測(cè)量法拍攝黑白圖像和彩色地圖圖像,,采用DLyte工藝之后,,用低于0.05 µm的Sa參數(shù)定量的樣品表面粗糙度降低。
此外,,通過(guò)使用Ai多焦面疊加技術(shù)的互補(bǔ)形狀測(cè)量,,證明了形狀得到保留。S neox Five Axis是一種多功能計(jì)量工具,,滿足我們的測(cè)量需求,,從現(xiàn)在起將成為DLyte實(shí)驗(yàn)室的得力工具。
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