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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
一,、概況
XDJS-II異頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料,、絕緣套管,、電力電纜、電容器,、互感器,、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋,，具有操作簡(jiǎn)單,、中文顯示、打印,、使用方便,、無(wú)需換算、自帶高壓,，抗*力強(qiáng),， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀,。
二,、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照）
2,、相對(duì)濕度：30%～70%
3,、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz
4,、外形尺寸：長(zhǎng)*寬*高=500mm*300mm*400mm
5,、重量：28kg
6、輸出功率：1.5KVA
7,、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8,、測(cè)試方法：正接法,、反接法、外接試驗(yàn)電壓法
9,、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF（10KV電壓大于30000PF）
外接試驗(yàn)電壓：由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定
10,、基本測(cè)量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.04%
電容容量（Cx）：1%±1pF
XDJS-II異頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
三、結(jié)構(gòu)
儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu),，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調(diào),，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備,。接線與QSI電橋相似,，但比其方便。
（1）顯示窗------------------------液晶顯示屏,。
（2）試驗(yàn)電壓選擇開(kāi)關(guān)--------------當(dāng)開(kāi)關(guān)置于“關(guān)”時(shí),，儀器無(wú)高壓輸出,。
（3）操作鍵盤---------------------選擇測(cè)量方式、起動(dòng),、停止,、打印等操作。
（4）電源插座---------------------保險(xiǎn)絲用5A,。
（5）電源開(kāi)關(guān)---------------------電源通斷,。
（6、7）起動(dòng)燈--------------------指示高壓輸出,。
(8) 打印機(jī)----------------------- 打印測(cè)試結(jié)果,。
