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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
neaSNOM超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM）,，其采用了散射式核心設(shè)計(jì)技術(shù)，提高了光學(xué)分辨率,，并且不依賴于入射激光的波長,，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像,。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性。neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的科研設(shè)備,，在等離基元,、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
近,，neaspec公司成功開發(fā)了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統(tǒng),，將上述sSNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強(qiáng)拉曼（TERS）,、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進(jìn)行聯(lián)用,，可以為廣大科學(xué)工作者在等離子激元、二維材料聲子極化,、半導(dǎo)體載流子子濃度分布,、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等的研究上提供相關(guān)支持,。
neaSNOM超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢：
neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
散射式近場光學(xué)測量技術(shù)
—*的*10 nm空間分辨率高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持*的信噪比干涉式近場信號探測單元
贗外差干涉式探測技術(shù)
—能夠獲得對近場信號強(qiáng)度和相位的同步成像反射式光學(xué)系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源：可見,、紅外以至太赫茲高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時(shí)優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量雙光束設(shè)計(jì)
—*的光學(xué)接入角：水平方向180°,，垂直方向60°操作和樣品準(zhǔn)備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程
neaSNOM重要應(yīng)用領(lǐng)域：
表面等離激元
石墨烯
六方氮化硼
光電流/太赫茲
化學(xué)過程
高分子/生物材料