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行業(yè)產(chǎn)品

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[供應]LiteScope™-NenoVision掃描電鏡下AFM
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  • LiteScope™-NenoVision掃描電鏡下AFM
貨物所在地：
上海上海市
更新時間：
2022-01-06 21:00:08
有效期：
2022年1月6日 -- 2022年7月6日
已獲點擊：
132
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（聯(lián)系我們,，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,，謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

NenoVision掃描電鏡下AFM提供了廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式,，可通過更換探針輕松使用,。

詳細介紹

LiteScope™

掃描探針顯微鏡的設(shè)計易于集成到電子顯微鏡中,。 互補的SPM 和SEM 技術(shù)的結(jié)合使得能夠利用兩種常用顯微鏡技術(shù)的優(yōu)勢。

描述

 

LiteScope™提供了廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式,，可通過更換探針輕松使用。

全面的樣本分析,，包括：

  • 表面形貌的表征

  • 機械性能

  • 電性能

  • 磁性

LiteScope™還可以與其他SEM附件結(jié)合使用：

  • 聚焦離子束（FIB)

  • 氣體注入系統(tǒng)（GIS）

用于制造納米/微結(jié)構(gòu)和表面修飾,。通過這種組合，LiteScope™可以輕松快速地對制造的結(jié)構(gòu)進行3D檢查,。

主要優(yōu)勢

  • *的相關(guān)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）

  • 相關(guān)電子顯微鏡技術(shù)

  • 全面的表面表征–形貌,，粗糙度，磁性能,，電導率,，電性能

  • 樣本上的信息提示導航

  • 不到五分鐘即可輕松集成和安裝/拆卸

  • 隨插即用

  • 與FIB，GIS,，EDX和其他配件兼容

其他優(yōu)勢

  • 自感應探頭,，無需光學檢測,，無需激光調(diào)整

  • 商用探頭，多種測量模式

  • 客戶定制的探頭可與根據(jù)客戶要求設(shè)計的合適探頭支架一起使用

  • 測量頭可以縮回到LiteScope™的主體中,，以釋放樣品周圍的空間

  • SPM在傾斜位置（傾斜0°– 60°）的操作,，小值 WD = 5毫米

  • 用戶友好的軟件，無需特殊安裝

  • 遠程訪問結(jié)果和測量設(shè)置

相關(guān)探針電子顯微鏡

 

關(guān)聯(lián)顯微鏡是一種受益于兩種不同技術(shù)的同一對象成像的方法,。

相關(guān)探針 和電子顯微鏡（CPEM）已開發(fā)用于使用相關(guān)成像技術(shù),，并帶來了解決方案，該解決方案可以同步：

  • 掃描區(qū)域

  • 分辨率和圖像失真

  • 并能夠?qū)崟r關(guān)聯(lián)采集的SPM和SEM圖像

NenoVision引入了CPEM技術(shù)

CPEM技術(shù)是市場上同類產(chǎn)品中的一個,，它允許在同一位置和同一時間使用同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)測量SPM和SEM,。

掃描電鏡技術(shù)

通過電子掃描樣品進行二維分析。

SPM技術(shù)

通過物理探針掃描樣品,。

CPEM技術(shù)

結(jié)合了兩種技術(shù),，并提供*的相關(guān)成像。

CPEM技術(shù)

CPEM可以在同一時間和同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)中同時通過SEM和SPM對一個區(qū)域進行同時的表面表征,。

以已知的恒定偏移量和相同的分辨率進行同時掃描,，可確保在同一表面上進行分析，并可通過我們的NenoView軟件直接用于在線成像,。

LiteScope™數(shù)據(jù)

LiteScope™通常用于高真空中,，但也可根據(jù)要求適用于超高真空條件。

  • 總重量：1 kg

  • 真空工作范圍：10e5 Pa至10e-5 Pa

  • 掃描范圍X,，Y,，Z：100×100 ×1 00μm或38x38x38μm

  • 分辨率：高達0.4 nm或0.07 nm

  • 大樣品尺寸：10毫米× 10毫米

  • 大樣品高度：8毫米

我們提供*非磁性的版本，也可根據(jù)要求提供閉環(huán),。

設(shè)計

LiteScope™放置在SEM / FIB顯微鏡的載物臺上,，甚至可以在傾斜位置進行測量，例如與FIB技術(shù)同時使用,。

  • 外形小巧,，體積小， 可集成到SEM / FIB儀器中

  • 易于集成的過程 –安裝在SEM / FIB機械手上

  • 當整個SPM探針隱藏在LiteScopeTM主體中時,，可使用對接選項

  • 通用探頭支架,，適用于多種SPM方法并易于“即插即用”組裝

  • 樣品傾斜高達60°

  • 針對低振動水平（剛度和適當?shù)墓舱耦l率）進行了優(yōu)化的機械設(shè)計，集成了前置放大器（以盡可能消除信號失真/噪聲）

控制單元

 

所有控制LiteScope™的電子設(shè)備都集成到一個控制單元中,。該單元是標準的19英寸機架,，可以輕松地安裝在SEM電子設(shè)備的空閑插槽上，也可以簡單地自由放置以匹配手頭任務的需要,。

  • 動態(tài)測量的大PLL頻率為75 kHz,，適用于基于音叉的探頭（或使用外部PLL或根據(jù)客戶要求更高）

  • 每個掃描軸2 × 16位DAC（掃描范圍，偏移），以在視場內(nèi)的任何地方達到大分辨率

  • 6 × 16位輔助輸入,，用于同時測量用戶信號（±10 V）

  • 輸入通道可用于反饋回路混頻器

  • 探頭信號輸出/監(jiān)控

  • 外部探頭激勵

  • 使用外部鎖定/ PLL所需的所有連接

  • 以太網(wǎng)連接到控制PC

  • 110 VAC或230 VAC操作,，200 W

  • 前置放大器位于LiteScope™的主體內(nèi)，可確保大大降低電噪聲

NenoView軟件

 

NenoView是用戶友好的軟件,，它可以*控制設(shè)置測量,，數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理。NenoView 支持CPEM技術(shù),，并使其能夠直接和內(nèi)部利用相關(guān)成像,。

  • 保存數(shù)據(jù)以及所有信息，包括測量設(shè)置

  • 基于Web的用戶界面

  • 易于新用戶使用,，對專家靈活

  • 用戶帳戶可單獨配置

  • 遠程訪問用戶數(shù)據(jù)

  • 將數(shù)據(jù)從控制PC下載到本地計算機

  • 通過平板電腦,，智能手機等進行遠程實驗控制

  • 集成的數(shù)據(jù)后處理，分析,，導出等

成像模式

LiteScope™提供并支持各種SPM測量方法和探頭,。

其設(shè)計的基石和有價值的技術(shù)特征是通用探頭支架，可以非常輕松地“即插即用”安裝不同的探頭,。

LiteScope™支持的方法和相關(guān)探針

 

 Akiyama probesTuning fork based probesPRS/A*Pt/Ir wire
STM (Scanning Tunneling Microscopy)Yes Yes  No  Yes 
AFM – Contact Mode No  No  Yes  No 
AFM – Tapping Mode Yes  Yes  Yes  No 
AFM – Conductive Mode No  Yes  No  No 
MFM (Magnetic Force Microscopy) No  Yes  No  No 
KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy) No  Yes  No  No 
EFM (Electrostatic Force Microscopy) No  Yes  No  No 
FMM (Force Modulation Mode) No  No  Yes  No 
Local voltage measurement No  Yes  No  Yes 
Local current measurement No  Yes  No  Yes 

* Piezo-Resistive Sensing / Active (PRSA) probes

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