您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
進(jìn)行電鏡下原子力測(cè)試,，技巧都有哪些,？
閱讀：772 發(fā)布時(shí)間：2021-5-24
電鏡下原子力能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。與常規(guī)顯微鏡比較,，原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是在大氣條件下,，以高倍率觀察樣品表面，可用于幾乎所有樣品（對(duì)表面光潔度有一定要求）,，而不需要進(jìn)行其他制樣處理,，就可以得到樣品表面的三維形貌圖象。并可對(duì)掃描所得的三維形貌圖象進(jìn)行粗糙度計(jì)算,、厚度,、步寬、方框圖或顆粒度分析,。
測(cè)試技巧
樣品的預(yù)處理：在電鏡下原子力下看樣品表面是否干凈,，平整，如果有污染或不平整,，務(wù)必重新制樣,。雖然針尖能測(cè)試的有效高度為6微米，水平范圍100微米,。但事實(shí)上,，水平和高度方面任接近何一個(gè)極限，所測(cè)得的圖象效果將很差,，且針尖很容易破壞和磨損,。
下針：在選好模式下針前，務(wù)必找到樣品表面,，調(diào)好焦距,。掃描范圍先設(shè)置為0，當(dāng)針尖接觸到樣品表面后,，再擴(kuò)大掃描范圍,，保護(hù)下針時(shí)破壞針尖。
掃圖：為了得到好的圖象,，須調(diào)好trace和retrace,，一般來(lái)說(shuō)調(diào)電壓效果會(huì)好一些,。探針在多次使用后或樣品表面比較粗糙，掃描范圍太小時(shí),，trace和retrace重合會(huì)比較困難,，可以增大掃描范圍或?qū)悠泛娓珊笤贉y(cè)。測(cè)試時(shí)應(yīng)保持安靜,，空調(diào)等低頻噪音也會(huì)影響測(cè)試,；如果環(huán)境太吵，可以降低圖象分辨率,，減小外界的影響,，或降低掃描頻率。
Integralgain和Proportionalgain：電鏡下原子力反饋系統(tǒng)的兩個(gè)增益值主要用來(lái)設(shè)定探針的反饋能力,。適當(dāng)提高Igain和Pgain的值以提高系統(tǒng)的響應(yīng)性,，但是這兩個(gè)參數(shù)不宜過(guò)高，否則會(huì)使掃描器振蕩,，致使圖像出現(xiàn)失真,。