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散射式近場光學顯微鏡的特點及實際應用
閱讀：1134 發(fā)布時間：2021-4-25
散射式近場光學顯微鏡建立在基于具有*地位的納米光學表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎(chǔ)之上,。s-SNOM設(shè)計具有非常優(yōu)秀的性能，高度集成,，全面自動化,，使用靈活,，為研究生產(chǎn)力和易用性設(shè)定了新的標準。
特別適用于硬質(zhì)材料,，特別是具有高反射率,、高介電常數(shù)或強光學共振的材料，可以完成對所有物質(zhì)納米尺度的化學性質(zhì)分析及探索,。
散射式近場光學顯微鏡的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定,，與入射光源的波長無關(guān)，能夠在可見,、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),，提供佳10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。
產(chǎn)品特點：
10nm空間分辨率近場成像和光譜,；
特殊的快速成像和采譜技術(shù),，10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像；
特殊的背景壓制技術(shù)和高效光學信號收集技術(shù),，確保在10nm空間分辨率下仍然保持*的信噪比,；
預先校準光路，操作極其簡便；
模塊化設(shè)計,，可拓展性強,；
散射式近場光學顯微鏡重要應用領(lǐng)域：
研究樣品化學組成；
低維體系表面激發(fā)（石墨烯/六方氮化硼等）,；
極性晶體,；
半導體納米器件：納米天線/納米線/納米顆粒；
超材料,；
高分子/蛋白質(zhì)/生物材料,。