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COXEM臺(tái)式掃描電鏡在金屬材料中的應(yīng)用
閱讀：1514 發(fā)布時(shí)間：2021-7-8
coxem臺(tái)式掃描電鏡可用于評(píng)估金屬和相關(guān)涂層的形貌,。BSE模式在這種情況下非常有用,。例如帶有化學(xué)蝕刻的金屬上圖是鍍有鎳和金的銅樣品。由于鎳和銅具有相似的原子序數(shù),，因此很難區(qū)分兩者之間的界限,。通過(guò)化學(xué)蝕刻，如右圖所示,，可以輕松區(qū)分兩層,。如果無(wú)法蝕刻，則可以在BSE模式下區(qū)分層,。
背散射電子（BSE）BSE探測(cè)器可以輕松集成到COXEM的SEM中,。BSE成像與SE成像一樣有用，尤其是在收集具有高原子序數(shù)對(duì)比度的圖像的成分和地形特征時(shí),。例如,，當(dāng)查看染色或涂有重金屬的生物樣品時(shí)，BSE模式可用于比SE模式更明顯地檢測(cè)金屬,。BSE圖像可以在高真空和低真空下獲得,。
coxem臺(tái)式掃描電鏡在金屬表面下，金屬物體對(duì)于SEM成像幾乎不需要特殊的樣品制備,。涂層不是必需的,，因?yàn)樗鼈兪歉邔?dǎo)電性的。如果表面水平相似,，則可能無(wú)法清楚地區(qū)分顆粒,。為了解決這個(gè)問(wèn)題，可以使用BSE模式,。BSE模式檢測(cè)表面上下的原子序數(shù)差異,，因此可以輕松區(qū)分高原子序數(shù)粒子。
多晶線樣品是部分涂有銅和碳的多晶線,。在高壓下拍攝圖像時(shí),，由于碳的原子序數(shù)低，無(wú)法看到碳涂層,。為了解決這個(gè)問(wèn)題,，降低加速電壓以查看表面上的附加信息。在低電壓下，很容易看到碳,。
coxem臺(tái)式掃描電鏡成像快速,，放置環(huán)境要求低，可隨意搬動(dòng),；支持不導(dǎo)電樣品直接觀察,，不導(dǎo)電樣品可無(wú)需噴金直接測(cè)量；儀器形態(tài)：小型,、桌面,，可移動(dòng)，具有防震設(shè)計(jì),，擺放于普通實(shí)驗(yàn)室桌面使用,，無(wú)需建立專(zhuān)用的抗震實(shí)驗(yàn)室或獨(dú)立的抗震臺(tái)，可不用減震裝置就能放置在二樓以上樓層,；電子探測(cè)器類(lèi)型：高靈敏四分割背散射電子探測(cè)器和二次電子探測(cè)器,。