硅光子和PIC測試

硅光子和光子集成最/全面、最快速的測試方案

LUNA提供基于光頻域反射技術(shù)（OFDR）的獨/特測試系統(tǒng),，和為現(xiàn)代硅光子 集成器件提供準確和快速的測試方案,。

10μm空間分辨率的器件光路損耗測試

Luna的超高空間分辨率背光反射計,，具備背向散射級的探測靈敏度,，為光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析,。

一臺設(shè)備即可測試器件的全部光學參數(shù)

Luna光矢量分析儀（OVA）能夠通過對光無源器件的一次掃描測量，即可完成 對線性傳輸矩陣 (瓊斯矩陣),、插入損耗 (IL),、群延時 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD),、偏振相關(guān)損耗 (PDL) 等關(guān)鍵光學參數(shù)的測量,。

全新6415光器件分析儀

Luna全新的6415是一款同時具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計產(chǎn) 品，同時可提供插入損耗（IL）的透射測試和分析模式,，是產(chǎn)線檢測和品質(zhì)控 制的理想選擇,。

應(yīng)用

?生產(chǎn)測試

?質(zhì)量控制

?生產(chǎn)問題診斷

?設(shè)計表征與分析

?驗證模型并改進仿真

?無源光器件和模塊：濾波器,、PLC,、AWG、MUX/DEMUX,、 分光器,、光柵、WSS,、ROADMs等

示例：平面光波導的表征

平面光波導作為硅光子平臺的關(guān) 鍵組成部分,，對測量方法提出了 更高的挑戰(zhàn)，包括在單位長度內(nèi) 存在更大的損耗,、更高的偏振相 關(guān)性等等,。

Luna的掃描激光干涉技術(shù)，能夠通過對器件的掃描,，獲得沿器件光路的 亞毫米級空間分辨率的損耗測量結(jié)果,，同時也可獲得更全面的其他光學參 數(shù)指標。比如對波導光柵的測量,，我們能夠同時獲得波導光柵在時域上的 端面及尺度特性,，以及在頻域上的頻譜響應(yīng)特性。

使用Luna的分析軟件,，您可以區(qū)分并挑選合適的光柵反射區(qū)域,，從而可 以輕松觀察到TM模和TE模在頻譜響應(yīng)中表現(xiàn)出的不同偏振效應(yīng)。否則,， 整體頻譜響應(yīng)（如下圖中紅色曲線所示）將被很強的端面反射造成的頻譜 響應(yīng)所充滿,。

時域響應(yīng)結(jié)果顯示，強烈的端面反射和波導光柵反射能夠被清晰 的區(qū)分和呈現(xiàn),。

通過時域響應(yīng)能夠很容易地確定光柵反射峰值,，從而可僅對光柵部 分進行頻譜分析（藍色曲線）。波導的整體頻譜響應(yīng)如紅色曲線所示,。

*的硅光子和 PIC 測試解決方案

Luna*的光學測量系列產(chǎn)品,，基于光頻域反射技術(shù)（OFDR），具有業(yè)界領(lǐng)/先的測試動態(tài)范圍,、時域和頻譜測試分辨率以及 測試速度,。

硅光子和PIC測試