Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件

Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件

光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件,。我們提供單面光學(xué)平面，其參考面的平坦度為λ/ 20 @ 633 nm。

產(chǎn)品介紹

Ø參考面的平面度：λ/ 20

Ø非常適合測試和評估其他光學(xué)組件

光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件,。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(huì)形成干涉圖案,，通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,，它們是氣膜厚度的輪廓圖,。如果光學(xué)元件的表面比要評估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的,。

如果將平面用于對象的頂部,，并且通過平面看到干涉圖案，則在平面的頂表面（不接觸被評估對象的表面）上具有抗反射鍍膜是有利的,。

產(chǎn)品型號