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艾克賽普多通道光電器件測試解決方案
閱讀：348 發(fā)布時間：2024-8-13
隨著光通信行業(yè)的核心組件光模塊邁向800G/1.6T的時代，光模塊的通道數(shù)量逐漸增加,，同時,，隨著硅光技術(shù)的發(fā)展，器件密度也顯著提高,。這為光電器件或硅光芯片的測試要求,，比如激光器和調(diào)制器的LIV掃描測試帶來了更高的挑戰(zhàn)，需要測試設(shè)備具備更高的通道密度,、更小的體積,、更快的測試速度以及更高的測量精度。
一,、20路并行使用的SMU源表需要占用多少體積?
二,、PXI平臺-SMU源表
PXI平臺提供高精度和高通道密度的SMU源表,，可以滿足硅光芯片和光電器件DC測試需求,。結(jié)合配套的Optoelectronic Component Test Software,，實(shí)現(xiàn)快速的測試開發(fā)和部署，加速產(chǎn)品上市時間,。
三,、PXI平臺-其他電學(xué)與光學(xué)儀表
PXI平臺同時支持豐富的光學(xué)儀器儀表，可覆蓋硅光芯片的典型測項(xiàng),。通過進(jìn)一步的集成搭建更緊湊、高效協(xié)同的光模塊測試系統(tǒng),。
