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　　粒子表面存在的凈電荷,，影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布,，導(dǎo)致接近表面抗衡離子(與粒子電荷相反的離子)濃度增加,。于是，每個粒子周圍均存在雙電層,。

　　Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點,、研究界面反應(yīng)過程的機理,。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點,，是認識粉體表面電性的重要方法,，在粉體表面處理中也是重要的手段。

　　Zeta電位樣品制備有2個關(guān)鍵問題：

　　1)合適的濃度,；

　　2)保證檢測體系和實際體系的一致性,，包括：pH、系統(tǒng)的總離子濃度,、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度,。

　　1. 至低濃度

　　在Zeta電位測試過程中所需的最小光強為20 kcps。因此至低濃度取決于相對折光指數(shù)差(粒子和溶劑間的折光指數(shù)差值)和粒子尺寸,。

　　粒子的尺寸越大所產(chǎn)生的散射光越強,，所需的濃度也就越低。對于折光指數(shù)差較大的樣品,，譬如TiO2粒子的水性懸浮液,，TiO2的折光指數(shù)為2.5，與水的折光指數(shù)差較大,，有較強的散射能力,。因此對于300 nm的TiO2粒子，最小濃度可以為10-6  w/v %,。對于折光指數(shù)差很小的樣品,，比如蛋白質(zhì)溶液，至低濃度會高很多,。通常至低濃度需要在0.1-1 w/v %之間才能有足夠的散射光強進行Zeta電位測量,。最終，對于特定樣品進行一個成功的Zeta電位測量的至低濃度,，應(yīng)該由試驗實際測量得到,。

　　2. 最高濃度

　　Zeta電位測量過程中的散射光在向前的角度收集，因此激光應(yīng)該保證能夠穿過樣品,。如果樣品的濃度過高,，則激光將會由于樣品的散射衰減很多，相應(yīng)的降低檢測到的散射光光強,。為了補償此影響,，衰減器會讓更過的激光通過,。最終，樣品的濃度范圍必須由測定不同濃度下的Zeta電位的試驗決定,，由此來得到濃度對Zeta電位的影響,。

　　3. 稀釋介質(zhì)

　　大多數(shù)樣品的分散相，可以歸于以下兩類：

　　1)介電常數(shù)大于20的分散劑被定義為極性分散劑,，如乙醇和水,。

　　2)介電常數(shù)小于20的分散劑被定義為非極性或低極性分散劑，如碳氫化合物類,、高級醇類,。

　　多數(shù)樣品要求稀釋，稀釋介質(zhì)對于檢測結(jié)果的可靠性是非常重要的,。Zeta電位依賴于分散相的組成,，因為它決定了粒子表面的特性。所給出的測量結(jié)果,，如沒有提及所分散的介質(zhì),，則是沒有太大意義的。