顯微分光膜厚儀是一種廣泛應用于光學材料研究和工業(yè)生產(chǎn)領域的高精度儀器,，其主要功能是測量薄膜的厚度,。
其主要特點包括：
(1)高精度：采用精密儀器算法，能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級的膜厚測量,，保證了測量結(jié)果的準確性和可靠性,。
(2)非接觸式測量：薄膜在測量過程中無需直接接觸儀器，避免了外力對樣品造成的影響,，同時保護了樣品的完整性,。
(3)快速測量：具有快速的測量速度，可實時顯示膜厚數(shù)據(jù),，并能夠進行自動化掃描和測量,。
使用膜厚儀之前，需要先清潔檢測頭,，避免灰塵或油脂對測試結(jié)果的干擾,。清潔時應注意以下事項：
1. 手柄和測試頭禁止強烈碰撞、振動或撞擊,，以免影響測量精度,。
2. 使用專用布清潔，禁止使用含有溶劑或刺激性強的清潔劑,。
3. 清潔時應輕輕擦拭,，防止損傷檢測頭。如果不慎弄臟了檢測頭,，可用濕紙巾擦拭,，但需注意不要使用含水分的清潔劑或水。
存放膜厚儀時需注意以下事項：
1. 將膜厚儀放置在清潔,、干燥,、不受陽光直射和高溫潮濕影響的地方。
2. 對于不使用的膜厚儀,，需將電池取出,。
3. 長期不使用的膜厚儀需進行定期充電，保證電池的壽命和穩(wěn)定性,。
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