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SediGraph III PLUS全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀
  • SediGraph III PLUS全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

貨物所在地:上海上海市

地: 美國

更新時(shí)間:2025-01-08 21:00:04

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新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與檢測儀器功能相結(jié)合,,提供*的重復(fù)性,、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量,,利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度,,無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙,、陶瓷,、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

 


SediGraph®Ⅲ Plus

全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

   SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物,。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度,。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑,。在這種情況下,,報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

•  器與配件報(bào)價(jià)     •          •  產(chǎn)品培訓(xùn)    

久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性

       在過去的三十多年中,,麥克儀器公司的SediGraph是*許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器,。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室,SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法,,顆粒通過直接吸收X射線而被測量,。根據(jù)Stockes定律,通過測量粒子在液體中的沉降速率,,得出粒子粒徑大小,,粒徑分析范圍為0.1~300μm。

 

  • 產(chǎn)品應(yīng)用
  • 軟件和數(shù)據(jù)報(bào)告
  • 應(yīng)用筆記,、文獻(xiàn)和參考書目
  • ASTM 方法

智能設(shè)計(jì)特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀設(shè)計(jì)確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性,。使得儀器操作更加容易,日常維護(hù)更加簡單,。并且能夠確保對同一樣品,,在任意一臺(tái)SediGrap h 儀器上都能獲得重復(fù)性*的結(jié)果。

• 簡化泵系統(tǒng),,確??焖俜治龊鸵子诰S護(hù)

• 降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護(hù)提醒裝置,,根據(jù)總測試量,,提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)

• 電腦控制混合室溫度,提高測試可重復(fù)性

• Windows操作軟件,,以太網(wǎng)連接,,可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單,聯(lián)網(wǎng)工作,,打印機(jī)選擇,剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng),,能夠提供多種類型的報(bào)告,,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)

多項(xiàng)功能

  • 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進(jìn)行分析,,包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
  • 能夠與其他粒徑測得的數(shù)據(jù)相結(jié)合,,使數(shù)據(jù)報(bào)告范圍可擴(kuò)展至125,000μm (125mm),在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用
  • 自下而上地掃描沉降室,,能夠準(zhǔn)確的獲取沉降顆粒的總數(shù),,同時(shí)zui小化顆粒分離所需的時(shí)間
  • 全自動(dòng)操作模式能夠增加分析樣品總數(shù),并且能夠減少人為操作步驟,,以降低由人為操作造成的測量誤差
  • 控溫分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化,,以獲取精確的分析結(jié)果
  • 多種分析速度,可根據(jù)實(shí)際需要選擇所需的速度和分辨率
  • 實(shí)時(shí)顯示,,能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,,以便根據(jù)需求立即修正分析程序
  • 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)報(bào)告能夠跟蹤過程性能,便于立即對變化做出響應(yīng)
  • 多圖疊加功能,,能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較,,例如:與參考樣品或基線疊加,,或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
  • 數(shù)據(jù)比較圖,能夠提供兩套數(shù)據(jù)組(不同于參考圖)圖形顯示的數(shù)學(xué)差或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)高于/低于誤差范圍的程度(圖以外)
  • 能夠使用同一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制兩SediGraph,,節(jié)約寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間,,方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
 
   

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