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對粒度分析來說,，沒有一種測試技術(shù)能夠滿足所有材料的應(yīng)用需求，選擇正確的測試方法是獲得可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵,，美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數(shù)量以及粒度分布的儀器,，對應(yīng)不同的測試方法，滿足不同的應(yīng)用,。

納米粒度與Zeta電位解決方案-Nanoplus納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是*的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度,、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊,、易于使用,、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池,，滿足不同用戶的應(yīng)用,。

·         三種型號可選：納米粒度儀、Zeta電位儀,，納米粒度與Zeta電位儀

·         測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm,，濃度范圍0.00001%~40%

·         測量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%

·         可配備自動滴定儀以及多種樣品池

費氏粒徑解決方案-SAS全自動費氏粒徑測試儀

麥克儀器SAS全自動費氏粒徑測試儀,，是由費氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級而來,，空氣滲透技術(shù)是*的粉體樣品比表面積（SSA）測試技術(shù)。使用該技術(shù)測定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個行業(yè)廣泛使用,，例如：藥物,、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

·         粒徑范圍：0.2-75μm

·         設(shè)計生產(chǎn)費氏粒度數(shù)據(jù),，保證數(shù)據(jù)一致性

·         安裝方便,，實時數(shù)據(jù)顯示

電阻法顆粒技術(shù)解決方案- ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時分析具有不同光學(xué)性質(zhì),、密度,、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、地檢測精細顆粒材料的尺寸,、數(shù)目,、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè),、生物,、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒,，具有*的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡便,。

·         測量范圍：0.4到266μm,，有機或者無機材料

·         可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)

·         無需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度,、折射率等）

·         全自動操作：啟動,、運行、關(guān)閉,、檢測并清除障礙物,、沖洗和校準(zhǔn)

·         CCD照相機可實時視頻顯示光圈

X光沉降粒度解決方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)， SediGraph III通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度,，無需模型,，儀器有很好的重復(fù)性、性和重現(xiàn)性,。

·         粒度范圍：0.1到300μm

·         高精度X射線管,，7年保修

·         可選的MasterTech 052自動進樣器進行18個樣品的自動分析

動態(tài)圖像法粒度分析解決方案-Particle Insight全自動粒形分析儀

Particle Insight是一款現(xiàn)代化的動態(tài)圖像分析儀，對于那些不僅由于顆粒大小,，并且也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應(yīng)用,，Particle Insight是理想的工具。

·         三種型號-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm

·         具有*的光學(xué),、高幀頻,、高分辨率的攝像頭，使數(shù)萬的顆粒分析能在幾秒內(nèi)完成,。所有形狀參數(shù)的數(shù)據(jù)實時顯示

·         30種尺寸/形狀參數(shù)可選,，更的客戶控制

·         所有分析過的粒子都有縮略圖，用來篩選與察看形狀的顆粒,。從單個粒子圖像捕獲參數(shù),，可用來監(jiān)測罕見顆粒

·         循環(huán)樣品模塊和類似激光衍射系統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)能夠在徆短的時間內(nèi)統(tǒng)計有效測量。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)適用于水相和有機液體

·         適用于水或有機溶液

激光粒度解決方案- Saturn DigiSizer II全自動高分辨率激光粒度分析儀

采用航天級的電荷耦合器CCD技術(shù)和超過三百萬個檢測器保證儀器獲得*的分辨率和的數(shù)字化散射圖樣以獲得*重現(xiàn)性的結(jié)果,，即使對于復(fù)雜材料也可以獲得高分辨率的結(jié)果,。

·         CCD檢測器提供40納米到2.5毫米范圍內(nèi)高分辨率檢測

·         測試速度快，高重現(xiàn)性試驗數(shù)據(jù)

·         自動進樣器可完成自動采樣,、稀釋和分散樣品