t-plot法，是分析材料微孔孔體積,，微孔表面積和外表面積的一種方法,。在使用t-plot法時，厚度值上下限的選擇是確定微孔體積的一個重要參數(shù),。本文對t-plot方法進行了簡單的介紹,，以便能夠?qū)-plot法有一個基礎的認知,，便于在物理吸附測試結束后，更好的理解和使用t-plot法去進行數(shù)據(jù)分析,。
t-plot法能夠用于固體微孔體積的確定,，即便是在微孔和中孔都存在的情況下，也都可以得到微孔的體積,?？偹苤匠醢l(fā)生在微孔中,，以便使微孔中由其孔和孔壁能量場疊加所產(chǎn)生的過大的勢能達到飽和,。當微孔被填充飽和之后，隨著相對壓力的升高,，開始充填介孔,。終，可獲得一條由I型等溫線和IV型等溫線組合而成的吸附等溫線,。我們可從可從P/PO值接近于1時的相對壓力較高點的氣體吸附量計算出總孔體積,。等溫吸附線如下圖所示。
使用測試得到的等溫吸附線數(shù)據(jù),，我們可以通過t-plot法區(qū)分微孔和介孔,，從而，估算出微孔體積和微孔表面積,。由于微孔一般是在非常低的相對壓力下充填,，相對壓力越低，分布屬性和t-curve的表現(xiàn)就越好,。因此,，在進行物理吸附測試時，盡量從更低的相對壓力開始吸附測試,，結果會更好一些,。
t-curve是氣體吸附的圖像表示，用cm3/g表示,，在確定平衡壓力的條件下,，它是其對應壓力下吸附膜的統(tǒng)計厚度的函數(shù)。含孔結構的吸附物統(tǒng)計厚度（用t表示）可用Halsey方程或Harkins and Jura方程計算,。
圖2中所示的曲線,，是從t-plot中獲得的。此處,，點（1）代表一個拐點,，此拐點位于t-curve其中兩點的切線的交叉處。點（1）表示微孔的充填完成及介孔充填的開始。切線（2）直接穿過t-curve的平坦部分,，將此條切線外推至Y軸,，即可得到微孔的體積。曲線的平坦部分和切線上的任意兩點都可用于決定t的限度,。每一點到X軸的垂線決定了t的值（大值和小值）,。因此，在圖二的例子中,，小值和大值分別為8和16埃 (Å),。
將這兩個t值輸入到報告選項中，就會獲得新的t-plot曲線,，切線直接穿過平坦區(qū)域,，外延到Y軸。此時,，按以下方程將一定量的被吸附的氣體體積轉換為等量的液體體積,，即可獲取微孔體積數(shù)據(jù),。
本文簡單的介紹了關于t-plot的意義和厚度值上下限選擇,。t-plot是我們在物理吸附測試后，常用到的一種數(shù)據(jù)分析方法,，能夠有助于我們獲取材料的微孔表面積,、微孔體積和外表面積數(shù)據(jù)，對材料結構物性分析具有重大意義,。我們可以通過使用各種類型的物理吸附儀,，例如美國麥克儀器公司的ASAP系列，Tristar系列以及3Flex系列等型號的物理吸附儀獲取材料的等溫吸脫附曲線數(shù)據(jù),，再使用Microactive數(shù)據(jù)處理軟件,，進行厚度值的選擇，以獲取材料的微孔表面積,、微孔體積和外表面積數(shù)據(jù),。
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