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中圖儀器NS系列納米級表面測量臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進行膜厚和薄膜高度,、表面形貌,、表面波紋和表面粗糙度等的測量。
NS系列臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,,同時,其集成了超低噪聲信號采集,、超精細運動控制,、標定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性,。
產(chǎn)品功能
1.參數(shù)測量功能
1)臺階高度:能夠測量納米到330μm或1050μm的臺階高度,,可以準確測量蝕刻、濺射,、SIMS,、沉積、旋涂,、CMP等工藝期間沉積或去除的材料,。
2)粗糙度與波紋度:能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,,分析軟件通過計算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra,、RMS,、Rv、Rp,、Rz等數(shù)十項參數(shù),。
3)應(yīng)力測量:可測量多種材料的表面應(yīng)力。
2.測量模式與分析功能
1)單區(qū)域測量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖設(shè)置掃描起點和掃描長度,,即可開始測量,。
2)多區(qū)域測量模式:完成Focus后,根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,,可根據(jù)橫向和縱向距離來陣列形成若干到數(shù)十數(shù)百項掃描路徑所構(gòu)成的多區(qū)域測量模式,,一鍵即可完成所有掃描路徑的自動測量。
3)3D測量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,,并可根據(jù)所需掃描的區(qū)域?qū)挾然驋呙杈€條的間距與數(shù)量完成整個掃描面區(qū)域的設(shè)置,,一鍵即可自動完成整個掃描面區(qū)域的掃描和3D圖像重建。
4)SPC統(tǒng)計分析:支持對不同種類被測件進行多種指標參數(shù)的分析,,針對批量樣品的測量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計數(shù)據(jù)的變化趨勢,。
3.雙導(dǎo)航光學(xué)影像功能
在NS200-D型號中配備了正視或斜視的500W像素的彩色相機,在正視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可精確設(shè)置掃描路徑,,在斜視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可實時跟進掃描軌跡,。
4.快速換針功能
采用了磁吸式測針,當需要執(zhí)行換針操作時,,可現(xiàn)場快速更換掃描測針,,并根據(jù)軟件中的標定模塊進行快速標定,確保換針后的精度和重復(fù)性,,減少維護煩惱,。
磁吸針實物外觀圖(330μm量程)
NS系列納米級表面測量臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類,、材料硬度都沒有特別要求,,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高,、測量穩(wěn)定、便捷,、高效,,是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。應(yīng)用場景適應(yīng)性強,,其對被測樣品的反射率特性,、材料種類及硬度等均無特殊要求,,能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽能光伏,、光學(xué)加工,、LED、MEMS器件,、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,。
典型應(yīng)用
部分技術(shù)參數(shù)
型號 | NS200 |
測量技術(shù) | 探針式表面輪廓測量技術(shù) |
探針傳感器 | 超低慣量,LVDC傳感器 |
平臺移動范圍X/Y | 電動X/Y(150mm*150mm)(可手動校平) |
樣品R-θ載物臺 | 電動,,360°連續(xù)旋轉(zhuǎn) |
單次掃描長度 | 55mm |
樣品厚度 | 50mm |
載物臺晶圓尺寸 | 150mm(6吋),200mm(8吋) |
尺寸(L×W×H)mm | 640*626*534 |
重量 | 40kg |
儀器電源 | 100-240 VAC,,50/60 Hz,200W |
使用環(huán)境
相對濕度:濕度 (無凝結(jié))30-40% RH
溫度:16-25℃ (每小時溫度變化小于2℃)
地面振動:6.35μm/s(1-100Hz)
音頻噪音:≤80dB
空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動)
懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,,恕不另行通知,不便之處敬請諒解,。
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