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深圳市中圖儀器股份有限公司

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當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>顯微測量儀>>白光干涉儀>> SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀

參  考  價(jià): 960000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號:SuperViewW1

品       牌:CHOTEST/中圖儀器

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:深圳市

更新時(shí)間:2025-04-08 10:07:18瀏覽次數(shù):1137次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,汽車及零部件,綜合
SuperViewW國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀可應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測,、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工,、微納材料及制造,、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天,、科研院所等領(lǐng)域中,。

中圖儀器SuperViewW國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀基于白光干涉原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊,、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,,典型結(jié)果包括:

表面形貌(粗糙度,平面度,,平行度,,臺階高度,錐角等等),;

幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和體積,,特征圖形的位置和數(shù)量等等),。

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀


SuperViewW國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀可應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件,、光學(xué)加工,、微納材料及制造、汽車零部件,、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天,、科研院所等領(lǐng)域中。


產(chǎn)品功能

(1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高,、角度等輪廓尺寸測量功能,;

(2)測量中提供自動對焦、自動找條紋,、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能,;

(3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能,;

(4)分析中提供校平,、圖像修描,、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,;

(5)分析中提供粗糙度分析,、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析,、頻率分析,、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能,。

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀


應(yīng)用領(lǐng)域

對各種產(chǎn)品,、部件和材料表面的平面度、粗糙度,、波紋度,、面形輪廓,、表面缺陷,、磨損情況、腐蝕情況,、孔隙間隙,、臺階高度、彎曲變形情況,、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析,。

應(yīng)用范例:

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀


性能特色

1、高精度,、高重復(fù)性

1)采用光學(xué)干涉技術(shù),、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高,;

2)隔振系統(tǒng),,能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復(fù)性,;

2,、環(huán)境噪聲檢測功能

具備的環(huán)境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設(shè)備調(diào)試,、日常監(jiān)測,、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。

3,、精密操縱手柄

集成X,、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移,、Z向聚焦,、找條紋等測量前工作。

4,、雙重防撞保護(hù)措施

在初級的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),,儀器自動進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),,最大限度的保護(hù)儀器,降低人為操作風(fēng)險(xiǎn),。

5,、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作,。

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀


針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度,、大掃描范圍的需求,中圖儀器SuperView W1的復(fù)合型EPSI重建算法,,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小,、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動拼接模塊下,,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),,即可自動掃描,重建其超光滑的表面區(qū)域,,不見一絲重疊縫隙,。

國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀


部分技術(shù)指標(biāo)

型號W1
光源
白光LED
影像系統(tǒng)1024×1024
干涉物鏡

標(biāo)配:10×

選配:2.5×;5×;20×;50×;100×

光學(xué)ZOOM

標(biāo)配:0.5×

選配:0.375×;0.75×;1×

物鏡塔臺

標(biāo)配:3孔手動

選配:5孔電動


XY位移平臺

尺寸320×200㎜
移動范圍140×100㎜
負(fù)載10kg
控制方式電動
Z軸聚焦行程100㎜
控制方式電動
Z向掃描范圍10 ㎜
主機(jī)尺寸(長×寬×高)700×606×920㎜

懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,,恕不另行通知,,不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,,請隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢,。



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