中圖儀器NS系列高精度薄膜厚度測量儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,，其主要用于臺階高,、膜層厚度,、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量,。它是利用光學(xué)干涉原理,，通過測量膜層表面的臺階高度來計(jì)算出膜層的厚度,，具有測量精度高、測量速度快,、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn),。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷,、塑料等,。

NS系列高精度薄膜厚度測量儀采用LVDC電容傳感器,，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點(diǎn)使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢,。針對測量ITO導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用場景,，NS200臺階儀提供如下便捷功能：

1）結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺的全電動載物臺,，能夠快速定位到測量標(biāo)志位,；

2）對于批量樣件,，提供自定義多區(qū)域測量功能，實(shí)現(xiàn)一鍵多點(diǎn)位測量,；

3）提供SPC統(tǒng)計(jì)分析功能,，直觀分析測量數(shù)值變化趨勢；

參數(shù)測量功能

1.臺階高度：能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,，可以準(zhǔn)確測量蝕刻,、濺射、SIMS,、沉積,、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料,；

2.粗糙度與波紋度：能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,，分析軟件通過計(jì)算掃描出的微觀輪廓曲線，可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra,、RMS,、Rv、Rp,、Rz等20余項(xiàng)參數(shù),；

3.翹曲與形狀：能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲,，如在半導(dǎo)體晶圓制造過程中，因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化,，或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑,。

產(chǎn)品特性

1.出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，滿足被測件測量精度要求

線性可變差動電容傳感器（LVDC）,，具有亞埃級分辨率,，13um量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,，使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征,。

2.超微力恒力傳感器：（1-50）mg可調(diào)

測力恒定可調(diào)，以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)材料表面,。超低慣量設(shè)計(jì)和微小電磁力控制,，實(shí)現(xiàn)無接觸損傷的精準(zhǔn)接觸式測量。

3.超平掃描平臺

系統(tǒng)配有超高直線度導(dǎo)軌,，杜絕運(yùn)動中的細(xì)微抖動，提高掃描精度,，真實(shí)反映工件微小形貌,。

4.頂視光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng)，5MP超高分辨率彩色相機(jī)

5.全自動XY載物臺,， Z軸自動升降,、360°全自動θ轉(zhuǎn)臺

6.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)

臺階儀軟件包含多個模塊，為對不同被測件的高度測量及分析評價提供充分支持,。

典型應(yīng)用

部分技術(shù)參數(shù)

使用環(huán)境

相對濕度：濕度 （無凝結(jié)）30-40% RH

溫度：16-25℃ (每小時溫度變化小于2℃)

地面振動：6.35μm/s（1-100Hz）

音頻噪音：≤80dB

空氣層流：≤0.508 m/s（向下流動）