當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>顯微測量儀>>白光干涉儀>> SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest
基于白光干涉原理,,中圖儀器自主研發(fā)生產(chǎn)的SuperViweW1白光干涉三維輪廓儀chotest采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點的擴展型相移算法EPSI,,單一模式即可適用于從平面到弧面,、超光滑到粗糙等各種表面類型,其3D重建算法,,自動濾除樣品表面噪點,,在硬件系統(tǒng)的配合測量精度可達亞納米級別,讓3D測量變得簡單,。
產(chǎn)品特點
1,、參數(shù)測量:粗糙度、圍觀輪廓尺寸,、角度,、面積、體積,;
2,、環(huán)境噪聲檢測:實時監(jiān)測;
3,、雙重防撞保護:軟件ZSTOP和Z向硬件傳感器,;
4、自動拼接:3軸光柵閉環(huán)反饋,;
5,、雙重振動隔離:氣浮隔振,吸音隔振,。
性能特征
1,、高精度、高重復(fù)性
3D重建算法,、精密Z向掃描模塊和光學(xué)干涉技術(shù)組成的測量系統(tǒng),,以及能有效隔離2Hz以上頻率的隔振系統(tǒng),保證了測量精度和測量重復(fù)性,。
2,、一體化操作的測量分析軟件
測量數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可視化窗口,,結(jié)合自定義分析模板的自動化測量功能,,實現(xiàn)了快速批量測量的功能,自動完成多區(qū)域的測量與分析過程,。
3,、精密操縱手柄
集成X、Y,、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,,可快速完成Z向聚焦、載物臺平移,、找條紋等測量前工作,。
4,、雙重防撞保護措施
(1)軟件防撞保護ZSTOP
即在Z軸上設(shè)置停止位,設(shè)置位置到樣品表面的距離小于鏡頭的工作距離,,當(dāng)鏡頭運動到該位置時,,就立刻停止不再向下運動,起到保護樣品和鏡頭的作用,。
(2)Z軸硬件防撞傳感器
在鏡頭的上方安裝有機械防撞傳感器,,當(dāng)鏡頭向下位移與樣品表面直接接觸時,觸發(fā)感應(yīng)器,,鏡頭與樣品表面變?yōu)檐浗佑|,,并觸發(fā)緊急停止開關(guān),不再響應(yīng)向下位移的指令,,避免鏡頭和樣品的損傷,,雙重防護,守護設(shè)備和產(chǎn)品,,也守護每一分價值和信任,。
白光干涉三維輪廓儀chotest讓輪廓測量價格更為實惠,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,,操作簡便,,可自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度,、輪廓等一百余項參數(shù),。適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度,、粗糙度,、孔隙間隙、彎曲變形情況,、腐蝕情況,、表面缺陷,、臺階高度,、波紋度、磨損情況,、面形輪廓,、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,,白光干涉儀具有的測量晶圓翹曲度功能,,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,,應(yīng)變測量以及表面形貌測量,。
結(jié)果組成:
1,、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,,表面結(jié)構(gòu),,缺陷分析,晶粒分析等,;
2,、二維圖像分析:距離,半徑,,斜坡,,格子圖,輪廓線等,;
3,、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,,透明薄膜下的表面,;
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量,;
5,、劃痕形貌,摩擦磨損深度,、寬度和體積定量測量,;
6、微電子表面分析和MEMS表征,。
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
1,、用于太陽能電池測量;
2,、用于半導(dǎo)體晶圓測量,;
3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量,;
4,、用于機械部件的計量;
5,、用于塑料,,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。
部分技術(shù)指標(biāo)
型號 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系統(tǒng) | 1024×1024 | |
干涉物鏡 | 標(biāo)配:10× 選配:2.5×;5×;20×;50×;100× | |
光學(xué)ZOOM | 標(biāo)配:0.5× 選配:0.375×;0.75×;1× | |
物鏡塔臺 | 標(biāo)配:3孔手動 選配:5孔電動 | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移動范圍 | 140×100㎜ | |
負載 | 10kg | |
控制方式 | 電動 | |
Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 電動 | |
Z向掃描范圍 | 10 ㎜ | |
主機尺寸(長×寬×高) | 700×606×920㎜ |
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