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CHOTEST中圖儀器光學(xué)表面輪廓儀品牌SuperViewW1具有測量精度高,、操作便捷,、功能齊全,、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),,確保了高款率檢測,。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊,、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D,、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量,。其特殊光源模式,,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
應(yīng)用領(lǐng)域
對各種產(chǎn)品,、部件和材料表面的平面度,、粗糙度、波紋度,、面形輪廓,、表面缺陷、磨損情況,、腐蝕情況,、孔隙間隙、臺階高度,、彎曲變形情況,、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,,光學(xué)表面輪廓儀品牌SuperViewW1具有的測量晶圓翹曲度功能,,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,,應(yīng)變測量以及表面形貌測量,。
結(jié)果組成:
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,,波紋度,,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,,晶粒分析等,;
2、二維圖像分析:距離,,半徑,,斜坡,,格子圖,輪廓線等,;
3,、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,,透明薄膜下的表面,;
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量,;
5,、劃痕形貌,摩擦磨損深度,、寬度和體積定量測量,;
6、微電子表面分析和MEMS表征,。
部分技術(shù)指標(biāo)
型號 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系統(tǒng) | 1024×1024 | |
干涉物鏡 | 標(biāo)配:10× 選配:2.5×;5×;20×;50×;100× | |
光學(xué)ZOOM | 標(biāo)配:0.5× 選配:0.375×;0.75×;1× | |
物鏡塔臺 | 標(biāo)配:3孔手動(dòng) 選配:5孔電動(dòng) | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移動(dòng)范圍 | 140×100㎜ | |
負(fù)載 | 10kg | |
控制方式 | 電動(dòng) | |
Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 電動(dòng) | |
Z向掃描范圍 | 10 ㎜ | |
主機(jī)尺寸(長×寬×高) | 700×606×920㎜ |
1,、高精度、高重復(fù)性
1)采用光學(xué)干涉技術(shù),、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),,保證測量精度高;
2)隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng),,消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)噪聲,,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復(fù)性,;
2,、環(huán)境噪聲檢測功能
具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲檢測模塊,能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動(dòng)干擾,,在設(shè)備調(diào)試,、日常監(jiān)測、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐,。
3,、精密操縱手柄
集成X、Y,、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦,、找條紋等測量前工作,。
4、雙重防撞保護(hù)措施
在初級的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),,儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),保護(hù)儀器,,降低人為操作風(fēng)險(xiǎn),。
5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)
既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作,。