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中圖白光干涉儀SuperViewW1利用光學(xué)干涉原理,,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,,非接觸測量樣品表面形貌,廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,,材料,,精密機械等等領(lǐng)域,用于表面形貌紋理,,微觀結(jié)構(gòu)分析,。測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi),,確保了高款率檢測,。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量,。
產(chǎn)品功能
1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高,、角度等輪廓尺寸測量功能,;
2)測量中提供自動對焦、自動找條紋,、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;
3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能,;
4)分析中提供校平,、圖像修描,、去噪和濾波,、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,;
5)分析中提供粗糙度分析,、幾何輪廓分析,、結(jié)構(gòu)分析,、頻率分析、功能分析等五大分析功能,;
6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
性能參數(shù)
型號 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系統(tǒng) | 1024×1024 | |
干涉物鏡 | 標配:10× 選配:2.5×,、5×,、20×,、50×,、100× | |
光學(xué)ZOOM | 標配:0.5× 選配:0.375×、0.75×,、1× | |
標準視場 | 0.98×0.98㎜(10×物鏡,,光學(xué)ZOOM 0.5×) | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移動范圍 | 140×100㎜ | |
負載 | 10kg | |
控制方式 | 電動 | |
Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 電動 | |
形貌重復(fù)性 | 0.1nm | |
粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm | |
臺階測量 | 準確度:0.3%;重復(fù)性:0.08%(1σ) | |
可測樣品反射率 | 0.05%~100% | |
主機尺寸 | 700×606×920㎜ |
性能特色
1、高精度,、高重復(fù)性
1)采用光學(xué)干涉技術(shù),、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高,;
2)隔振系統(tǒng),,能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,,獲得高測量重復(fù)性;
2,、環(huán)境噪聲檢測功能
具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲檢測模塊,,能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設(shè)備調(diào)試,、日常監(jiān)測,、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。
3,、精密操縱手柄
集成X,、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,,可快速完成載物臺平移,、Z向聚焦、找條紋等測量前工作,。
4,、雙重防撞保護措施
在初級的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進行防撞保護外,,另在Z軸上設(shè)計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表面時,,儀器自動進入緊急停止狀態(tài),,最大限度的保護儀器,降低人為操作風(fēng)險,。
5,、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)
既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標配靜音空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作,。
白光干涉儀采用的光學(xué)非接觸式測量方法,,以及具有的測量精度高、使用方便,、分析功能強大,、測量參數(shù)齊全等優(yōu)點,加上其光源模式,,保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測。中圖白光干涉儀分辨率0.1μm,,重復(fù)性0.1%,,可為樣品表面測量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案,。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,,其反射率小于1%,;也可以用于測試直至100%反射率的各類高反表面。