當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>顯微測(cè)量?jī)x>>白光干涉儀>> SuperViewW1三維白光干涉儀
SuperViewW1三維白光干涉儀的雙通道氣浮隔振系統(tǒng),,使得其既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。適用于各種產(chǎn)品,、部件和材料表面的平面度,、粗糙度、孔隙間隙,、磨損情況,、腐蝕情況、波紋度,、臺(tái)階高度,、表面缺陷、面形輪廓,、彎曲變形情況,、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
結(jié)果組成
1,、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,,波紋度,表面結(jié)構(gòu),,缺陷分析,,晶粒分析等;
2,、二維圖像分析:距離,,半徑,斜坡,,格子圖,,輪廓線等;
3,、表界面測(cè)量:透明表面形貌,,薄膜厚度,透明薄膜下的表面,;
4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量,;
5,、劃痕形貌,摩擦磨損深度,、寬度和體積定量測(cè)量,;
6、微電子表面分析和MEMS表征。
部分參數(shù)
Z向分辨率:0.1nm
橫向分辨率(0.5λ/NA):100X~2.5X:0.5um~3.7um
粗糙度RMS重復(fù)性:0.1nm
表面形貌重復(fù)性:0.1nm
臺(tái)階測(cè)量重復(fù)性:0.1% 1σ,;準(zhǔn)確度:0.75%
SuperViewW1三維白光干涉儀分辨率0.1μm,,重復(fù)性0.1%,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度,、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,,操作簡(jiǎn)便,,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度,、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),。