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[供應]J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列
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  • J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列
貨物所在地:
上海上海市
產地:
日本
更新時間:
2025-02-05 08:21:58
有效期:
2025年2月5日 -- 2025年5月7日
已獲點擊:
358
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(聯系我們,,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,,謝謝?。?/p>

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產品簡介

J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列
絕緣抵抗測定器
型號:ECM-500
用途:印刷電路板、焊錫,、樹脂,、絕緣材料等的遷移評價。

詳細介紹

J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列

絕緣抵抗測定器

型號:

ECM-500/40-n

ECM-500/100-n


離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE,經過長時間的測試(11000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生(ION MIGRATION,并記錄電阻值變化狀況,,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,,或者是 OPEN/SHORT 試驗,,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。(ION MIGRATION TESTING) 適用規(guī)格:JPCA-ET01-2001

可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個別電壓輸出下進行各種樣品的測試

通過配備信道單獨計測電路進行50msec/CH的高速掃描處理

用響應速度低于100nsec的瞬時泄漏電流檢測電路,捕捉到泄漏觸摸現象

多達100ch的殼體小型輕量,,不選擇場所設置,,移動也容易

利用倉門打開的接點進行緊急停止或暫時停止的安全功能

采用不同CH的彩色電纜,減少焊接作業(yè)的負擔,,防止出錯,。

簡單易用的軟件

J-RAS離子遷移試驗裝置

用途

印刷電路板、焊錫,、樹脂、絕緣材料等的遷移評價,。

多達500v的外加電壓可滿足汽車電子相關廠商的測試要求,。



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