產品簡介
絕緣抵抗測定器
型號:ECM-500
用途:印刷電路板、焊錫,、樹脂,、絕緣材料等的遷移評價。
詳細介紹
J-RAS離子遷移試驗裝置ECM-500系列
絕緣抵抗測定器
型號:
ECM-500/40-n
ECM-500/100-n
離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),經過長時間的測試(1~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生(ION MIGRATION),并記錄電阻值變化狀況,,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,,或者是 OPEN/SHORT 試驗,,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。(ION MIGRATION TESTING) 適用規(guī)格:JPCA-ET01-2001
可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個別電壓輸出下進行各種樣品的測試
通過配備信道單獨計測電路進行50msec/CH的高速掃描處理
用響應速度低于100nsec的瞬時泄漏電流檢測電路,捕捉到泄漏觸摸現象
多達100ch的殼體小型輕量,,不選擇場所設置,,移動也容易
利用倉門打開的接點進行緊急停止或暫時停止的安全功能
采用不同CH的彩色電纜,減少焊接作業(yè)的負擔,,防止出錯,。
簡單易用的軟件
J-RAS離子遷移試驗裝置
用途
印刷電路板、焊錫,、樹脂、絕緣材料等的遷移評價,。
多達500v的外加電壓可滿足汽車電子相關廠商的測試要求,。