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影響安捷倫光譜分析儀測(cè)量的哪些內(nèi)在因素
閱讀：1055 發(fā)布時(shí)間：2021-8-16
安捷倫光譜分析儀是一種用于測(cè)量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。光譜分析就是從識(shí)別某些元素的特征光譜來(lái)鑒別元素的存在（定性分析）,，而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)定元素的含量（定量分析）,。
安捷倫光譜分析儀用于對(duì)油液的老化程度和污染狀況進(jìn)行定性和定量分析,，可快速檢測(cè)在用油液的氧化度、硝化度,、硫化度,、微水、冷卻液,、燃油稀釋,、殘?zhí)恳约翱鼓ヌ砑觿p耗等多項(xiàng)理化指標(biāo)，*設(shè)備維護(hù)中對(duì)油液狀態(tài)監(jiān)測(cè)的要求,。是一種常用的分析儀器,，通常由光源、單色器,、探測(cè)器和計(jì)算機(jī)處理信息系統(tǒng)組成,，產(chǎn)品具有使用靈活、操作簡(jiǎn)便,、可靠性高等優(yōu)點(diǎn),。
由于不同的安捷倫光譜分析儀的結(jié)構(gòu)構(gòu)成不同，所以用戶在方放置儀器時(shí),，要注意到光照因素對(duì)紅外光譜儀造成的影響,。而且環(huán)境的高溫強(qiáng)度也會(huì)隨著環(huán)境光照的影響而增強(qiáng)，其對(duì)儀造成無(wú)法避免的損壞。所以,，用戶要把握好儀器對(duì)環(huán)境的適用范圍,。
影響安捷倫光譜分析儀測(cè)量的內(nèi)在因素
在了解了投射測(cè)定的相關(guān)內(nèi)容后，我們?cè)賮?lái)看看影響安捷倫光譜分析儀測(cè)量的一些內(nèi)在因素,。
1.物理干擾
物理干擾是指在樣品轉(zhuǎn)移和蒸發(fā)過(guò)程中任何物理因素變化引起的干擾效應(yīng),。屬于此類干擾的因素包括：測(cè)試溶液的粘度、溶劑的蒸氣壓,、霧化氣體的壓力等,。物理干擾是非選擇性干擾，對(duì)樣品元素的影響基本相似,。
制備類似于測(cè)試樣品的標(biāo)準(zhǔn)樣品是消除物理干擾的常用方法,。當(dāng)樣品的成分未知或無(wú)法匹配時(shí)，可以使用標(biāo)準(zhǔn)添加方法或稀釋方法來(lái)減少和消除物理干擾,。
2.化學(xué)干擾
化學(xué)干擾是指由測(cè)試元件與其他組件之間的化學(xué)相互作用引起的干擾效應(yīng),。它主要影響測(cè)試元件的原子化效率，并且是原子吸收分光光度法中干擾的主要來(lái)源,。這是由于在液相或氣相中被測(cè)元素的原子與干擾物質(zhì)的組成之間形成了熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物,，這影響了被測(cè)元素化合物的離解和原子化。
消除化學(xué)干擾的方法包括：化學(xué)分離;使用高溫火焰;加入釋放劑和保護(hù)劑等,。
3.電離干擾
高溫下原子的電離會(huì)降低基態(tài)原子的濃度,，并導(dǎo)致原子吸收信號(hào)降低，這種干擾稱為電離干擾,。電離效應(yīng)隨溫度和電離平衡常數(shù)的增加而增加,，而隨被測(cè)元素濃度的增加而減小。添加更容易電離的堿金屬元素可以有效消除電離干擾,。
4.光譜干擾
光譜干擾包括譜線重疊,、光譜通帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射,、分子吸收,、光散射等。當(dāng)采用銳線光源和交流調(diào)制技術(shù)時(shí),，前3種因素一般可以不予考慮,，主要考慮分子吸收和光散射地影響，它們是形成光譜背景的主要因素,。
5.分子吸收干擾
分子吸收干擾是指由原子化過(guò)程中產(chǎn)生的氣體分子,，氧化物和鹽分子吸收輻射引起的干擾。光散射是指在霧化過(guò)程中生成的固體顆粒會(huì)散射光,，從而使散射光偏離光路,，并且無(wú)法被檢測(cè)器檢測(cè)到,，從而導(dǎo)致高吸收值。