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ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀

ST-21L方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,，可用于測量一般半導體材料,、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻,。
ST-21H方塊電阻測試儀以大規(guī)模集成電路為主要核心,；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路,；并配以大型LCD顯示讀數(shù),，使儀器具有體積小、重量輕,、外形美,、易操作,、測量速度快,、精度高的特點。

ST-21L方塊電阻測試儀特點

1,、采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,，測量準確穩(wěn)定，低功耗,；
2,、以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰,；
3,、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示,；
4,、體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g,；
5,、特制之手握式探筆，球形探針,、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6,、探頭帶抗靜電模塊

ST-21L方塊電阻測試儀技術參數(shù)

測量范圍
   按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
   1.方塊電阻 1.00～19.999Ω/□；
   2.方塊電阻 10.0～199.99Ω/□,；
   *小分辨率：0.001Ω/□
恒流源： 測量過程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉換器：
  量程：0～199.99mv,；
  分辨率：10μv；
  方式：LCD大屏幕顯示,；極性,，超量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示,；
測量不確定度：在整個量程范圍內,，測量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格：間距：1mm、1.59mm、3.8mm,；偏差≤2%,；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源：9V疊層電池1節(jié)

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格：

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規(guī)格

ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀