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界面工程有機近紅外光電探測器在成像方面的應(yīng)用
主要內(nèi)容
研究團隊報道了一種高速低暗電流近紅外(NIR)有機光電探測器(OPD)，該探測器在硅襯底上以非晶銦鎵氧化鋅(a-IGZO)作為電子傳輸層(ETL),。通過精細的表征技術(shù),，與溫度相關(guān)的電流-電壓測量、基于電流的深能級瞬態(tài)光譜（Q-DLTS）和瞬態(tài)光電壓衰減測量,，可以深入了解暗電流的起源,。這些表征結(jié)果與從紫外光電子能譜推導(dǎo)出的能帶結(jié)構(gòu)相輔相成,。
基于陷阱輔助場增強熱發(fā)射（Poole–Frenkel發(fā)射）的暗電流機制，陷阱態(tài)的存在和激活能對所施加的反向偏置電壓產(chǎn)生強烈依賴性,。通過在供體:受體共混物和a-IGZO ETL之間引入薄界面層來顯著減少這種發(fā)射,，并在?1 V的反向偏置下獲得低至125 pA/cm2的暗電流。
由于使用了高遷移率金屬氧化物傳輸層,，實現(xiàn)了639 ns（上升）和1497 ns（下降）的快速光響應(yīng)時間,，這是NIR OPD報道的最快光響應(yīng)時間之一。最后,，研究團隊展示了一種在互補金屬氧化物半導(dǎo)體讀出電路上集成近紅外OPD的成像器,，證明了改進的暗電流特性在使用該技術(shù)捕獲高質(zhì)量樣本圖像方面的重要性。
其中深能級瞬態(tài)光譜（Q-DLTS）和瞬態(tài)光電壓（TPV）是使用巨力光電代理的Paios太陽能電池&OLED瞬態(tài)特性測試系統(tǒng)進行測量的,。
