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OLED光譜分析系統(tǒng)主要測試功能有哪些,?

閱讀:1994        發(fā)布時間:2021/9/9
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OLED光譜分析系統(tǒng)用于測量OLED,、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角,同事也可測量器件的s和p偏振光譜,、發(fā)射光譜與角度的關系,,計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布,。

OLED光譜分析系統(tǒng)主要測試功能:


1、OLED效率測量/外量子效率EQE測量,,流明效率Lm/W 和 發(fā)光效率Cd/A,;


2、發(fā)射角度測量,;


3,、光譜&顏色測量@發(fā)射角;


4,、CIE xyY測量,;


5、視角測量,;


6,、IVL(電流—電壓—亮度)測量;


7,、PL光致發(fā)光測量功能(有機,、量子點、鈣鈦礦薄膜發(fā)射光譜和極化角度),;


8,、EL電致發(fā)光測量功能(OLED\鈣鈦礦LED和其他發(fā)光器件);


9,、極化測量,;


10、發(fā)射角對應的光譜和顏色,;


11,、可與Setfos組合,,隨發(fā)射層進行分析,;


12、擬合發(fā)光器件的發(fā)射區(qū),、分子取向和發(fā)光方向,。

 

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