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判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標
日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器具有高輻照度,、大尺寸光斑、均勻性和穩(wěn)定性良好,、長時間持續(xù)工作等優(yōu)勢,，各項技術指標均處于國內水平。太陽模擬器的投入使用,，有效提高了真空環(huán)境下目標的測量范圍和測量精度,，對我國模擬測量工作具有重要意義。
太陽光模擬器由光源,、儲能供電電路,、觸發(fā)電路、電子負載,、采集電路以及計算機等模塊組成,，在整個太陽模擬器中，其中的關鍵部件可以分成六個模塊,，它們是：光源,，儲能供電模塊，濾光系統(tǒng),，勻光系統(tǒng),，電子負載,，軟件系統(tǒng)。
判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標,。
1. 光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm,、500-600nm、600-700nm,、700-800nm,、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內與真實太陽光的匹配程度,，用百分比來表示,。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進行劃分。
2. 輻照空間均勻性
在一定測試區(qū)域的輻照度應達到一定的均勻度要求,。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%,。
光照均勻性是難達到和保持的一項指標，工作面積上的強光點會導致被測電池效率產(chǎn)生嚴重誤差,，并導致電池分級錯誤,。均勻度*的模擬器就能將這種強光點對產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴格控制于≤2%,。
3. 輻照時間穩(wěn)定性
輻照穩(wěn)定性是AA*標準的第三項性能參數(shù)指標,，它要求日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對于輻照不穩(wěn)定性,，還細分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI）,，分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。