X射線CT探傷技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)和尺寸進(jìn)行無損測(cè)量,，一次掃描即可同時(shí)完成產(chǎn)品的尺寸檢測(cè)與材料質(zhì)量控制，相比于傳統(tǒng)接觸式的或光學(xué)設(shè)備的難以探測(cè)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的掃描方式,，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個(gè)理想的解決方案,。但是,，由于工業(yè)ct檢測(cè)過程受很多復(fù)雜因素影響，目前為止對(duì)于工業(yè)CT設(shè)備的測(cè)量精度及置信度尚無法給出確切的回答,，這也成為限制工業(yè)CT測(cè)量技術(shù)發(fā)展的瓶頸,。
X射線CT測(cè)量誤差主要來源分析可以從以下幾個(gè)方面著手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測(cè)量結(jié)果對(duì)工業(yè)CT數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí),，尤其對(duì)于使用平板探測(cè)器的系統(tǒng)來說,，需要校準(zhǔn)的尺寸應(yīng)包含樣品X-Y和X-Z兩個(gè)平面(即平行和垂直與探測(cè)器的平面)，工業(yè)CT數(shù)據(jù)在這兩個(gè)方向上單個(gè)像素尺寸往往并不相等,，這取決于重建矩陣的選擇,。故在工業(yè)CT掃描過程中，應(yīng)盡量避免樣品放置時(shí)上下端面與射線平行,，或者說應(yīng)該盡量避免樣品上下端面垂直于旋轉(zhuǎn)軸，否則導(dǎo)致樣品上下端面應(yīng)采樣不足,，帶來SDK重建為引,，消除因采樣不足導(dǎo)致的重建為引可以通過改變樣品的放置方式來解決，例如以15度放置,。
工業(yè)CT
從投影重建圖像過程中,，最主要的影響因素來自于射線硬化及射線散射帶來的圖像，硬化和散射偽影,，導(dǎo)致圖像灰度分布,，偏離真實(shí)分布，給后續(xù)測(cè)量及閾值風(fēng)格帶來困難,，這些偽影如果不經(jīng)過適當(dāng)?shù)男Ｕ?，?huì)導(dǎo)致測(cè)量的可靠性降低。
一般來說減弱射線硬化影響,，可以通過在采集數(shù)據(jù)時(shí)放置前置濾波板來調(diào)節(jié),，也可以通過后續(xù)硬化校正算法來改善。
雖然硬化,、散射偽影和FDK重建偽影導(dǎo)致DR實(shí)時(shí)成像設(shè)備工業(yè)CT的圖像灰度分布偏離真實(shí)的分布給后續(xù)的測(cè)量及閾值分割帶的困難,，但是，我們通過專業(yè)軟件和提高算法進(jìn)行校正,，會(huì)減少誤差,，將工業(yè)CT的測(cè)量精度提高，在可接受的范圍內(nèi),。
數(shù)據(jù)處理過程中影響工業(yè)電視測(cè)量的主要因素有邊界閾值的選擇,。例如工業(yè)CT重建之后獲得物體的三維模型，在這一數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量之前,，首先需要選擇適當(dāng)?shù)挠蛑邓惴▉矸指畈牧吓c空氣或不同材料之間的邊界,，也就是所謂的邊緣檢測(cè)過程,，傳統(tǒng)的閾值算法可能不夠精確，現(xiàn)在我們將通過改進(jìn)算法,，例如使用基于實(shí)際表面的邊緣檢測(cè)算法,，或通過搜索圖像法的方向像素變化能提高邊緣檢測(cè)的精度。
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