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紅外測(cè)溫儀使用時(shí)有哪些環(huán)境影響?
閱讀：924 發(fā)布時(shí)間：2013-8-22 紅外測(cè)溫技術(shù)已發(fā)展到可對(duì)有熱變化表面進(jìn)行掃描測(cè)溫，確定其溫度分布圖像,，迅速檢測(cè)出隱藏的溫差， 這就是紅外熱像儀.紅外熱像儀zui先應(yīng)用于軍事上,，美國TI公司1911年研制出世界上*臺(tái)紅外掃描偵察系統(tǒng),。以后，紅外熱成像技術(shù)在西方國家陸續(xù)用于飛機(jī),、坦克,、軍艦和其他武器上，作為偵察目標(biāo)的熱瞄系統(tǒng),，大大提高了搜索,、命中目標(biāo)的能力。
紅外測(cè)溫儀在諸多領(lǐng)域中應(yīng)用到,，例如：在玻璃工業(yè)的生產(chǎn)工藝過程中,，溫度的測(cè)量控制是其中一種非常重要且必要的手段，紅外測(cè)溫因其具有操作簡(jiǎn)單,，響應(yīng)速度快,，不老化，漂移小,，配置靈活,，不會(huì)污染玻璃溶液等因素而受到重視。
紅外測(cè)溫儀環(huán)境影響：
大氣衰減
由于受檢電氣設(shè)備表面紅外輻射能量,，是經(jīng)大氣傳輸?shù)郊t外檢測(cè)儀器里的,，這就會(huì)受到大氣組合中的水蒸汽,、二氧化碳、一氧化碳等氣體分子的吸收衰減和空氣中懸浮微粒的散射而衰減,，設(shè)備輻射能量傳輸?shù)乃p隨著檢測(cè)儀器到被測(cè)設(shè)備之間的距離,，降低了被測(cè)設(shè)備輻射的透過率，所以其衰減是隨距離的增大而增加,，降低受檢設(shè)備故障部位與正常部位的輻射對(duì)比度,，也會(huì)因?yàn)榧t外儀器接收到的目標(biāo)能量減少，使得儀器顯示出來的溫度低于被測(cè)故障點(diǎn)的實(shí)際溫度值,，從而造成漏檢或誤診斷,。尤其對(duì)于檢測(cè)溫升較低的設(shè)備故障時(shí)，這是很不利的,。檢測(cè)距離增大,，大氣組合的影響將會(huì)越來越大。而且又要獲得目標(biāo)溫度準(zhǔn)確性,，必須采取如下對(duì)策：盡量選擇在環(huán)境大氣比較干燥,、潔凈的時(shí)節(jié)進(jìn)行檢測(cè);在不影響安全的條件下盡可能縮短檢測(cè)距離，還要對(duì)溫度測(cè)量結(jié)果進(jìn)行合理的距離修正,，以便測(cè)得實(shí)際溫度值,。
氣象條件
不良的氣象環(huán)境（雨、雪,、霧及大風(fēng)力等）,，會(huì)對(duì)設(shè)備溫度檢測(cè)帶來不利的影響，往往會(huì)給出虛假的故障現(xiàn)象,。為了減少氣象條件的影響,，盡量在無雨、無霧,、無風(fēng)和環(huán)境溫度較穩(wěn)定的夜晚進(jìn)行檢測(cè),。
環(huán)境輻射
在進(jìn)行戶外電力設(shè)備紅外檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)儀器接收的紅外輻射除了包括受檢設(shè)備相應(yīng)部位自身發(fā)射的輻射以外,，還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射,，以及直接射入太陽輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測(cè)部位的溫度造成干擾,，對(duì)故障檢測(cè)帶來誤差,。為了減少環(huán)境與背景輻射的影響，應(yīng)采取如下對(duì)策措施：對(duì)戶外電氣設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)紅外檢測(cè),，盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無光照時(shí)間進(jìn)行,。這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽輻射影響，對(duì)戶內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈,，以及要避開其他的輻射影響,。
對(duì)于高反射的設(shè)備表面，應(yīng)該采取適當(dāng)措施來減少對(duì)太陽輻射及周圍高溫物體輻射的影響,?；蛘吒淖儥z測(cè)角度，找到能避開反射的*角度進(jìn)行檢測(cè),。
為減少太陽輻射及周圍高溫背景的輻射影響,，可在檢測(cè)時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧蛘咴诩t外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片,，以便濾除太陽及其他背景輻射,。
選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測(cè)距離進(jìn)行檢測(cè)，使受檢測(cè)的設(shè)備部位充滿儀器視場(chǎng),，從而減少背景輻射的干擾,。