美國科諾參與指導(dǎo),,戰(zhàn)略合作伙伴上海梭倫研究版本光學(xué)接觸角儀中標(biāo) "香港科技大學(xué)納米與材料研究院",。這是我們的產(chǎn)品推向應(yīng)用用戶的一個新里程,也是對我們產(chǎn)品的性能,、技術(shù),、服務(wù)的一個肯定。
美國科諾將繼續(xù)加大亞太地區(qū)的研發(fā)投入,,加強(qiáng)與上海梭倫的戰(zhàn)略合作,,與廣大用戶和同行一起不斷提升光學(xué)法界面化學(xué)分析的關(guān)鍵技術(shù),擴(kuò)大界面化學(xué)分析儀器應(yīng)用范圍,。
比如,,美國科諾已經(jīng)在界面化學(xué)基于Young-lalapalace技術(shù)原理的擬合技術(shù)上取得重大突破,不久就將引入第四代基于真實液滴的技術(shù)原理的測試方法法(基于TrueDrop的技術(shù)核心) 動態(tài)接觸角分析的技術(shù)的幾何模型迭代分析技術(shù),。這是一種突破,,實現(xiàn)了由BA表擬合技術(shù)和1996年德國柏林理工大學(xué)的Spinger教授提出的基于“B"概念的Young-Laplace方程擬合法的第二代擬合技術(shù),至Newmann教授的龍格庫拉解法下的第三代擬合技術(shù),,向第四代基于真實液滴技術(shù)的新動態(tài)接觸角測試方法法(基于RealDrop的技術(shù))法的Young-Lapalace的技術(shù)的擬合精度突破,。第四代技術(shù)的關(guān)鍵點在于,我們將利用美國科諾強(qiáng)大的圖像分析技術(shù),,真正解決*代與第二代技術(shù)的經(jīng)驗性假設(shè)誤差,、第三代技術(shù)自動化程度的關(guān)鍵問題,從而提高了分析速度,、重復(fù)性,、人為因素影響等對界面張力測值的影響,。此時,明顯的表現(xiàn)是,,我們不再像第二代技術(shù)那種必須假設(shè)取得理想的B=0.4-0.7時需要根據(jù)經(jīng)驗和估算界面張力值,,選用相應(yīng)針頭的問題。我們認(rèn)為,,界面張力測值與針頭的直徑的選取就是一個經(jīng)驗判斷,。這個判斷會造成相當(dāng)?shù)恼`差與人為影響。
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