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塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-分度值0.001mm薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,，還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試,、箔片、硅片,、金屬片的厚度測(cè)試,、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
詳細(xì)介紹
LBT-35型 塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-分度值0.001mm薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試,、箔片、硅片,、金屬片的厚度測(cè)試,、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-分度值0.001mm●技術(shù)參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí),，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4,、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試,，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試,、箔片,、硅片、金屬片的厚度測(cè)試,、紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-12mm
2,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí),，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5,、整機(jī)重量：1.5kg
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試,、箔片、硅片,、金屬片的厚度測(cè)試,、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
●技術(shù)參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
3,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5,、整機(jī)重量：1.5kg