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增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
  • 增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)

貨物所在地:上海上海市

地: 美國

更新時間:2024-10-10 14:17:25

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SpecMetrix® 增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng),為離線和在線涂層測試提供非接觸式,、非破壞性和實時厚度測量,。


SpecMetrix® 增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)


增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)為離線和在線涂層測試提供非接觸式、非破壞性和實時厚度測量,。


由SpecMetrix提供,,工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌,致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量,。

SpecMetrix®增強型實驗室系統(tǒng)為用戶提供高標準的非接觸,、非破壞性和實時的絕對厚度測量數(shù)據(jù),適用于已應用的涂層和涂覆層,。


簡化質(zhì)量控制流程 – 適用于離線和在線,!


SpecMetix®增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)旨在簡化質(zhì)量控制流程,無論是在實驗室環(huán)境中的離線樣品測試,,還是與周期性在線涂層驗證結(jié)合使用,。它能夠幫助用戶防止成千上萬英尺的有缺陷材料,節(jié)省時間和成本,。

· 離線測量:可通過單點和掃描模式進行,。

· 周期性在線測量:通過使用帶有堅固探頭的磁性臂進行。

SpecMetrix增強型實驗室系統(tǒng)通過提高對多種基材的檢查,,優(yōu)化了涂層工藝和質(zhì)量控制,,非常適合試驗線,、測試設施和頻繁換型的環(huán)境。它是多個行業(yè)的質(zhì)量控制實驗室和生產(chǎn)線中信賴的系統(tǒng)之一,,提供亞微米級精度的絕對涂層厚度數(shù)據(jù),。


多功能測量能力


SpecMetrix®增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)是一個極其多功能的系統(tǒng),允許用戶測量幾乎任何涂層或涂覆層,。

· 濕涂層或干涂層

· 清晰,、著色或有色涂層

· 適用于任何基材的涂層,幾乎適用于任何行業(yè),,包括柔性包裝,、汽車、工業(yè)和金屬包裝

· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層,,或多層膜層,,精度達到亞微米級

· 模塊化設計,具備從離線質(zhì)量控制測試到部分在線測量的即時測量能力

· 系統(tǒng)可全面升級為全在線系統(tǒng),,用于連續(xù)在線使用


按需配置


SpecMetrix增強型實驗室系統(tǒng)相較于其他實驗室工具具有顯著優(yōu)勢,。該系統(tǒng)配備一個堅固的探頭,可輕松安裝在任何涂布機或復合機上,,并配有SpecMetrix在線測量軟件,,結(jié)合了實時離線質(zhì)量控制樣品測試的優(yōu)勢以及在試驗線或涂層線上快速設置和質(zhì)量檢查。

模塊化設計使得重新配置變得簡單,。該系統(tǒng)可以全面升級為全在線系統(tǒng)配置,,適用于連續(xù)在線使用。


完整的涂層洞察


憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強光學干涉技術,,用戶可以獲得樣品的完整涂層測量數(shù)據(jù),。我們的技術將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測量。

該技術也很安全——無放射性和無侵入性,。我們的光學技術高度*,,并在整個涂層行業(yè)中得到廣泛應用。


強大的SensorMetric軟件


作為測量分析的核心部分,,我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中,,或與工廠網(wǎng)絡接口,以便在生產(chǎn)運行期間或之后進行SPC分析,。




功能和優(yōu)點


· 靈活快速 – 模塊化設計使得離線或部分在線測量使用更快,。

· 非接觸式 – 測量過程中不接觸涂層或基材,保持樣品和部件的完整性,。

· 絕對厚度測量 – 超高精度的實時涂層和層厚度測量,,加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析,。

· 基材獨立 – 可測量涂覆的部件及應用在透明,、有色或著色基材上的涂層,。

· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層以及多層膜,精度達到亞微米級,,適用于濕涂層或干涂層,。

· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性ROI光學測量技術。

· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料,、返工勞動力和能源成本,。

· 強大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡接口,,以便進行SPC分析,。



規(guī)格


應用: 光學測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試

材料: 油墨和涂料

測量范圍:   0.3至250微米(涂層厚度)

精度:   涂層厚度的±1%(標稱值)

測量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至45°C

輸出指標:   微米、密耳,、mg/in2,、mg/4in2、g/m2,、mg/cm2、lbs/令

操作系統(tǒng):   Windows®平臺

制造:   美國制造

認證:   CE認證,、UL認證和CSA認證

系統(tǒng)組件:   處理單元,、觸摸屏控制、操作員輸入鍵盤,、樣品測試臺和固定器,、光學探頭組件、實驗室探頭,、堅固的在線探頭,、磁性臂和安裝套件、NIST可追溯的厚度標準




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