優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma19055耐壓測(cè)試分析儀

主要特色：

500VA 輸出
Floating 輸出設(shè)計(jì),，符合EN50191要求
Corona 電暈放電偵測(cè)（19055-C）
Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
BDV崩潰電壓分析
專(zhuān)利 HFCC高頻接觸偵測(cè)
專(zhuān)利 OSC開(kāi)短路偵測(cè)
GFI人體保護(hù)電路

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma19055耐壓測(cè)試分析儀

主要特色：

• 500VA 輸出
• Floating 輸出設(shè)計(jì)，符合EN50191要求
• Corona 電暈放電偵測(cè)(19055-C)
• Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
• BDV崩潰電壓分析
• 專(zhuān)利 HFCC高頻接觸偵測(cè)
• 專(zhuān)利 OSC開(kāi)短路偵測(cè)
• GFI人體保護(hù)電路
• 標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER介面
• 可選購(gòu)GPIB介面
• 不良時(shí)面板鎖定功能
• 可程式電壓輸出及測(cè)試限制值
• 支援 A190301 高壓掃描治具

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma19055耐壓測(cè)試分析儀

功能

• 耐壓測(cè)試 
  - 交流 5kV/100mA 
  - 直流 6kV/25mA
• 絕緣電阻測(cè)試 
  - 5kVmax 
  - 1MΩ~50GΩ

Chroma 19055 耐壓分析儀為針對(duì)耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備,。其具備500VA大功率,，最大輸出交流5kV/100mA，符合大功率耐壓測(cè)試需求,，以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細(xì)資訊請(qǐng)參考應(yīng)用文件),。

19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓,、絕緣電阻測(cè)試外,，加入新研發(fā)的電暈放電偵測(cè)功能 (Corona Discharge Detection, CDD)，可經(jīng)由崩潰電壓分析 (Breakdown Voltage Analysis)分別檢出 :
- 電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)
- 電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)
- 絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)

對(duì)於測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題,，除原有專(zhuān)利設(shè)計(jì)OSC開(kāi)短路偵測(cè) (Open Short Check)外,，新增高頻接觸檢查 (High Frequency Contact Check, HFCC) ，高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率,。

為體貼使用者,，Chroma 19055置入大型LCD顯示屏幕，方便操作與判斷,。加入GFI 人體保護(hù)電路以及Floating安全輸出設(shè)計(jì),，保護(hù)操作人員的安全，讓您在操作時(shí)無(wú)後顧之憂,。

量測(cè)技術(shù)

耐壓測(cè)試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測(cè)技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",，意指在耐壓測(cè)試中，不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生,。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類(lèi)絕緣材料或耐壓零組件最重視的議題,。由於放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性，所以放電偵測(cè)不僅是安全議題,，更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵,。若依材料放電的性質(zhì)來(lái)分類(lèi)，放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge),、火花放電(Glow discharge),、電弧放電(Arc discharge) 。

電暈放電(Corona Discharge): 當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí),，電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)較大,，當(dāng)此作用大於氣體之電離位能(Ionization Potential) ，於材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象,，此時(shí)會(huì)有可見(jiàn)光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象,。長(zhǎng)期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change)，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ,，使得絕緣耐受程度下降,，最終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖,。由於電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電，是可以用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè),。