薄膜體積表面電阻率試儀典型應(yīng)用

1,、測量絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3,、測量計算機(jī)房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

4,、測量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

5,、光電二極管暗電流測量

6,、物理,光學(xué)和材料研究

標(biāo)準(zhǔn)配置:

1、測試儀器:1臺

2,、.電源線:1條

3,、測量線:3根(屏蔽線、測試接線,、接地線)

4,、使用說明書:1份

備注:

本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻

率或電導(dǎo)率,符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻,、體積電阻系數(shù)和表面電阻試

驗方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求,。

薄膜體積表面電阻率試儀技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω,。

2,、電流測量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式:數(shù)字液晶顯示

4,、內(nèi)置測試電壓: 10V ,、50V、100V,、250,、500、1000V

5,、基本準(zhǔn)確度:1% (*注)

6,、使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

重要性和用途絕緣材料用于電子系統(tǒng)彼此和與地面之間隔離，該材料能提供零部件的機(jī)械支撐,。由于此用途,，通常要求具有盡可能高的絕緣電阻，以與可接受的機(jī)械,、化學(xué)和耐熱性能*,。因為絕緣電阻或電導(dǎo)組合了體積和表面電阻或電導(dǎo)，當(dāng)實際使用時,，要求試驗樣本和電有相同的形式,，此時的測量值是非常有用的。表面電阻或電導(dǎo)隨著濕度發(fā)生快速變化,，然而體積電阻或電導(dǎo)則稍微變化,，盡管總的變化在一些變化可能更大,。電阻或電導(dǎo)可用于間接預(yù)測某些材料的低頻率電介質(zhì)擊穿和損耗因數(shù)性能。電阻或電導(dǎo)通常作為濕度含量,，固化程度,，機(jī)械連續(xù)性或不同類型老化的間接測量方式。這些間接測量的效用取決于通過理論或經(jīng)驗研究確立的相關(guān)度,。表面電阻的降低可導(dǎo)致因為電場強(qiáng)度降低而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的增加,，或者由于應(yīng)力面積的增加而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的降低,。

所有的電介質(zhì)電阻或電導(dǎo)都取決于電化時間長短和施加的電壓值（除了普通的環(huán)境變量之外）,。這些因素必須已知，同時報告,，以使得電阻或電導(dǎo)測量值有意義,。在電絕緣材料工業(yè)中，形容詞“表觀"通常適用于在任意選擇電化時間條件下獲得的電阻值,。體積電阻或電導(dǎo)可通過在特定應(yīng)用場合設(shè)計某個絕緣體使用的電阻和尺寸數(shù)據(jù)計算得出,。研究已經(jīng)表明電阻或電導(dǎo)隨著溫度和濕度的變化而變化（1,2,3,4）4，同時在設(shè)計工作條件時,，必須已知這種變化,。體積電阻或電導(dǎo)測量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性，或者對于加工,，可探測影響材料質(zhì)量的導(dǎo)電雜質(zhì),，而這不容易通過其它方法觀察到。體積電阻超過1021Ω·cm(1019Ω·cm)時,，樣本在普通實驗室條件測試獲得的數(shù)值計算得出體積電阻,，如果結(jié)果確實可疑，則應(yīng)考慮通常使用的測量設(shè)備的局限性,。表面電阻或電導(dǎo)不能準(zhǔn)確測量,，只能近似測量，因為體積電阻或電導(dǎo)總是受到測量方法的影響,。測量值還受到表面污染的影響,。表面污染及其積聚速度受到許多因素的影響，包括靜電充電和界面張力,。這些因素反過來可以影響表面電阻,。當(dāng)包括污染，但是在通常常識下判斷不是電絕緣材料的材料性能時,，此時表面電阻或電導(dǎo)可視為與材料性能相關(guān),。

電極系統(tǒng)絕緣材料的電極將允許親密接觸樣本表面，同時不會由于電極電阻或樣本的污染（5）而引入相當(dāng)可觀的誤差,。電極材料應(yīng)在試驗條件下能耐腐蝕,。當(dāng)對制造樣本進(jìn)行測試時,，例如連接襯套，線纜等等,，采用的電極作為樣本或其裝配組件的一部分,。在這類場合，絕緣電阻或電導(dǎo)的測量值此時包括電極或安裝材料的污染影響,，同時在實際使用時通常與樣本性能有關(guān),。3括號里的粗體數(shù)字參閱這些試驗方法附屬的參考文獻(xiàn)清單。