300C低電阻及電阻率測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示，無需人工計算,，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運(yùn)輸安全、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高精確度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

300C低電阻及電阻率測試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1.硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

參數(shù)資料1.方塊電阻范圍：10-6～2×106Ω/□2.電阻率范圍：10-7～2×103Ω-cm3.測試電流范圍：0.1μA，1μA,，10μA,，100µA.4.電流精度：±0.1%讀數(shù)5.電阻精度：≤0.3%6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率.7.測試方式: 雙電測量8.工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗 lt;30W9.整機(jī)不確定性誤差:≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能: 選購1.pc軟件,； 2.方形探頭,； 3.直線形探頭； 4.測試平臺11.測試探頭：  探針間距選購：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

參數(shù)parameters

1.電阻率/ resistivity： 10-8～2×106ω-cm

2.電阻/ resistance： 10-8～2×106ω

3.電導(dǎo)率/ conductivity：5 ×10-6～108s/cm

4.分辨率：0.1μω/resolution: minimum 0.1μω

5.測量誤差±（0.05%讀數(shù)±5字）/ accuracy ±0.05%

6.測量電壓量程/ measuring voltage range：2mv 20mv 200mv 2v

7.測量精度±（0.1%讀數(shù)）/ measuring accuracy ±0.1%

8.分辨率/resolution： 0.1uv 1uv 10uv 100uv

9.電流輸出：直流電流0～1000ma可調(diào),，輸入220v,。

current output: dc current 0～1000ma adjustable. input 220v.

10.量程/range：1μa，10μa,，100μa,，1ma，10ma,，1000ma.

11.誤差：±0.2%讀數(shù)±2字/accuracy ±0.2%

12.測試治具：電纜導(dǎo)電層直徑：10mm-40mm

該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測量,，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜,，抗靜電材料,， EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等